美國(guó)Qualitest泄漏測(cè)試儀

Qualitest自成立以來(lái)一直致力于儀器設(shè)備的開(kāi)發(fā)生產(chǎn)，包括分光光度計(jì)、光譜儀、電子高度計(jì)等產(chǎn)品設(shè)備，可以提供*的產(chǎn)品和技術(shù)，滿(mǎn)足客戶(hù)在現(xiàn)代材料測(cè)試領(lǐng)域的要求。Qualitest將繼續(xù)不斷研究創(chuàng)新，為客戶(hù)提供合適的產(chǎn)品及解決方案。

產(chǎn)品范圍：

美國(guó)Qualitest分光光度計(jì)、光譜儀、電子高度計(jì)、超聲波測(cè)厚儀、硬度計(jì)、便攜式硬度計(jì)、數(shù)字測(cè)力計(jì)、數(shù)字快速計(jì)、沖擊試驗(yàn)機(jī)、扭矩測(cè)試儀、泄漏測(cè)試儀、密度計(jì)、色度計(jì)、霧化測(cè)試儀、拉伸試驗(yàn)機(jī)、硬度測(cè)試儀、金屬分析儀、光學(xué)分選機(jī)。

主要型號(hào)：

QM-Series、HW Series、MT-Series、ESM 303、QT-ETT、QT-LT-V、QT-LT-P、QualiX-2000、QualiX-S Plus、QualiX-T1、QualiX-G1、QualiX-G2、QualiX-G3、QualiX-R1、QualiX-P1、QualiX-S2、QualiX-M1、QualiX-S1

相關(guān)產(chǎn)品介紹：

泄漏測(cè)試儀 -  QT-LT-V

泄漏測(cè)試儀 -  QT-LT-V用于測(cè)試包裝袋，瓶子，罐子等的氣密密封質(zhì)量和性能。它還可用于在壓縮試驗(yàn)，跌落試驗(yàn)和其他破壞性試驗(yàn)方法后測(cè)試試樣的密封性能。

特征：

-自動(dòng)程序控制測(cè)試;

-數(shù)字預(yù)設(shè)真空度和真空保持時(shí)間設(shè)計(jì)，確保測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性;

-其自動(dòng)測(cè)試功能*控制測(cè)試參數(shù)，如真空產(chǎn)生，自動(dòng)回吹，自動(dòng)停止和采集測(cè)試數(shù)據(jù)，具有高精度和高精度;

-快速，簡(jiǎn)便，可控的操作。

技術(shù)規(guī)格：

-真空度：

0~-80 KPa

0~-95 KPa

-真空精度：

±1％

±1％

-真空時(shí)間

0.1~60分鐘

0.1s~10000分鐘

-空氣注入壓力：

0.7~0.8 MPa

0.7~0.8 MPa

-真空室尺寸（根據(jù)要求定制）：

Ø270mm x 270 mm

Ø270mm x 270 mm

-尺寸：

300毫米x 430毫米x 500毫米

345毫米x 580毫米x 440毫米