Global Plus掃描型測(cè)量機(jī)，是Global Plus產(chǎn)品系列的機(jī)型，能夠滿足對(duì)于完成復(fù)雜掃描測(cè)量應(yīng)用的需要。新型的LSP-X 系列掃描測(cè)頭，為高精度和高效率的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)提供了專業(yè)的掃描探測(cè)解決方案。

方案概述：

 通過(guò)系統(tǒng)回收和系統(tǒng)置換，實(shí)現(xiàn)現(xiàn)有測(cè)量系統(tǒng)的無(wú)憂升級(jí)換代！

只需滿足如下條件，您就可以與海克斯康聯(lián)系，進(jìn)行測(cè)量系統(tǒng)的置換與回收：

♦ 三軸導(dǎo)軌無(wú)劃傷；
♦ 外罩齊備；
♦ 工作臺(tái)無(wú)明顯重大碰撞。

測(cè)量系統(tǒng)回收方案

當(dāng)您對(duì)現(xiàn)有的測(cè)量系統(tǒng)不再有測(cè)量使用的需求時(shí)，可聯(lián)系海克斯康，我們的測(cè)量專家會(huì)根據(jù)測(cè)量系統(tǒng)的現(xiàn)有狀況對(duì)其進(jìn)行合理估價(jià)，回收您的設(shè)備。

測(cè)量系統(tǒng)置換升級(jí)的優(yōu)化方案

提供符合現(xiàn)代設(shè)計(jì)的類(lèi)型測(cè)量系統(tǒng)，配備功能*的軟件與探測(cè)技術(shù)，使您通過(guò)較少的投入，就可獲得一套滿足現(xiàn)代生產(chǎn)技術(shù)所需要的測(cè)量系統(tǒng)。

升級(jí)置換機(jī)型推薦：

Global Plus 掃描型。

產(chǎn)品詳情：

Global Plus掃描型測(cè)量機(jī) - 完成更復(fù)雜的測(cè)量應(yīng)用

基于其*的靈活性和模塊化的結(jié)構(gòu)，Global Plus 能夠通過(guò)不同配置滿足用戶關(guān)于尺寸控制的任何需求。新型的LSP-X 系列掃描測(cè)頭，為高精度和高效率的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)提供了專業(yè)的掃描探測(cè)解決方案。 它既能夠提供高精度測(cè)頭的精密計(jì)量工具，又能夠和TESASTAR-m 自動(dòng)分度測(cè)座匹配。點(diǎn)到點(diǎn)和連續(xù)掃描兩種模式都能夠全面兼容，是各種高精度、復(fù)雜形狀零部件理想的檢測(cè)方案。

Global Plus產(chǎn)品特性

• 全鋁合金框架結(jié)構(gòu)，采用了的表面陽(yáng)極化擠壓鋁合金制造工藝
• 獲得的精密三角梁結(jié)構(gòu)，具備良好的剛性，并降低了整機(jī)的重心，從而提高了測(cè)量的精度和運(yùn)動(dòng)穩(wěn)定性
• 輕質(zhì)量的外罩減少了整機(jī)的重量，從而提高了效率
• 通用測(cè)量移動(dòng)橋式結(jié)構(gòu)，提供更開(kāi)敞的測(cè)量空間
• 采用 Heidenhain 高分辨率金質(zhì)光柵尺，其熱膨脹系數(shù)獲得認(rèn)證
• Brown & Sharpe，的橋式測(cè)量機(jī)品牌，具有178 年精密制造經(jīng)驗(yàn)
• 每軸均采用空氣軸承，消除摩擦力和磨損的影響，對(duì)灰塵具備不敏感性
• 燕尾式導(dǎo)軌整體加工在花崗石平臺(tái)上（該技術(shù)獲得），提高了機(jī)器的精度和重復(fù)性

軟件系統(tǒng)

功能*的計(jì)量與檢測(cè)軟件PC-DMIS，為任何計(jì)量需要提供了的檢測(cè)方案。從簡(jiǎn)單的箱體類(lèi)工件，一直到復(fù)雜的形狀和曲面掃描；從操作簡(jiǎn)單、圖形化的零件編程，到基于 CAD 的各種測(cè)量應(yīng)用，PC- DMIS 軟件使您的測(cè)量過(guò)程始終以高速、高效率和高精度進(jìn)行，并真正成為超過(guò) 35,000 家客戶的最終選擇.

探測(cè)系統(tǒng)

掃描與點(diǎn)到點(diǎn)，觸發(fā)與光學(xué)測(cè)頭，固定與旋轉(zhuǎn)測(cè)座，車(chē)間和計(jì)量室，Global Plus 能夠全部包容；基于其*的靈活性和模塊化的結(jié)構(gòu)，Global Plus 能夠通過(guò)不同配置滿足您關(guān)于尺寸控制的任何需求。

LSP-X系列高性能三維掃描探測(cè)系統(tǒng)

新型的LSP-X系列掃描測(cè)頭，為高精度和高效率的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)提供了專業(yè)的掃描探測(cè)解決方案。它既能夠提供高精度測(cè)頭的精密計(jì)量工具，又能夠和TESASTAR-m 自動(dòng)分度測(cè)座匹配。點(diǎn)到點(diǎn)和連續(xù)掃描兩種模式都能夠全面兼容，是中等尺寸的楞邊復(fù)雜型和曲面復(fù)雜型工件的理想檢測(cè)方案。

技術(shù)參數(shù)：

Global Plus 行程范圍、外型尺寸