詳細摘要: 描述:儀器簡介:SpectraThick,K-MAC公司的薄膜厚度測量系統(tǒng),采用的是光學技術(shù)方法
產(chǎn)品型號:所在地:更新時間:2026-03-09 在線留言
深圳微科泰儀器儀表有限公司
詳細摘要: 描述:儀器簡介:SpectraThick,K-MAC公司的薄膜厚度測量系統(tǒng),采用的是光學技術(shù)方法
產(chǎn)品型號:所在地:更新時間:2026-03-09 在線留言詳細摘要: 描述:osp膜厚測量儀st4080-osp儀器通過進行pcb/pwb上osp鍍層厚度的完整性、可靠性及膜層形態(tài)的定量分析,進而檢測osp鍍層的應用可靠性
產(chǎn)品型號:所在地:更新時間:2026-03-09 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
商 鋪:深圳微科泰儀器儀表有限公司 http://m.liuyangwu.com/st32796/
主營產(chǎn)品:X射線測厚儀,美國禾威控制器,實驗室設備
移動端:深圳微科泰儀器儀表有限公司手機站
儀表網(wǎng) 設計制作,未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
請輸入你感興趣的產(chǎn)品
請簡單描述您的需求
號碼可能有誤,請核對!
請選擇省份