硫化橡膠耐臭氧老化測(cè)試 參考價(jià):面議
硫化橡膠耐臭氧老化測(cè)試,硫化橡膠耐臭氧老化箱用于測(cè)試橡膠及其制品的耐臭氧老化性能設(shè)備執(zhí)行(滿足)相關(guān)標(biāo)JIS K 6259ASTM1149 ISO1431 GB...鹽霧復(fù)合試驗(yàn)箱說明書 參考價(jià):面議
鹽霧復(fù)合試驗(yàn)箱說明書突破了傳統(tǒng)鹽霧箱的概念,除具有通常鹽霧試驗(yàn)機(jī)的功能外,還結(jié)合有交變(循環(huán))鹽霧試驗(yàn)的功能,提供了癡狀腐蝕和絲狀腐蝕等試驗(yàn)環(huán)境,具備了熱風(fēng)干燥...腐蝕復(fù)合試驗(yàn)機(jī),腐蝕復(fù)合試驗(yàn)箱 參考價(jià):面議
腐蝕復(fù)合試驗(yàn)機(jī),腐蝕復(fù)合試驗(yàn)箱突破了傳統(tǒng)鹽霧箱的概念,除具有通常鹽霧試驗(yàn)機(jī)的功能外,還結(jié)合有交變(循環(huán))鹽霧試驗(yàn)的功能,提供了癡狀腐蝕和絲狀腐蝕等試驗(yàn)環(huán)境,具備...高溫高濕測(cè)試,高溫高濕檢測(cè) 參考價(jià):面議
高溫高濕測(cè)試,高溫高濕檢測(cè)適用于國防工業(yè),航天工業(yè)自動(dòng)化零組件,汽車部件,電子、電器零組件,塑料、化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱、耐濕、耐寒、耐干性能...存儲(chǔ)測(cè)試箱,高低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)箱 參考價(jià):面議
恒溫溫存儲(chǔ)測(cè)試箱,高低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)箱適用于國防工業(yè),航天工業(yè)自動(dòng)化零組件,汽車部件,電子、電器零組件,塑料、化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱、耐寒、耐干性...調(diào)溫調(diào)濕檢定箱,調(diào)溫調(diào)濕測(cè)量箱 參考價(jià):面議
調(diào)溫調(diào)濕檢定箱,調(diào)溫調(diào)濕測(cè)量箱國防工業(yè),航天工業(yè)自動(dòng)化零組件,汽車部件,電子、電器零組件,塑料、化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱、耐濕、耐寒、耐干性能及...全自動(dòng)扭力試驗(yàn)儀,全自動(dòng)扭力試驗(yàn)裝置 參考價(jià):面議
全自動(dòng)扭力試驗(yàn)儀,全自動(dòng)扭力試驗(yàn)裝置本機(jī)適用于各種產(chǎn)品之相關(guān)扭力測(cè)試.螺絲,帶螺紋產(chǎn)品,NB轉(zhuǎn)軸、手機(jī)(單體轉(zhuǎn)軸扭力、成品扭轉(zhuǎn)壽命試驗(yàn))、LCD Monitor...全自動(dòng)扭力檢測(cè)機(jī),全自動(dòng)扭力檢測(cè)儀 參考價(jià):面議
全自動(dòng)扭力檢測(cè)機(jī),全自動(dòng)扭力檢測(cè)儀本機(jī)適用于各種產(chǎn)品之相關(guān)扭力測(cè)試.螺絲,帶螺紋產(chǎn)品,NB轉(zhuǎn)軸、手機(jī)(單體轉(zhuǎn)軸扭力、成品扭轉(zhuǎn)壽命試驗(yàn))、LCD Monitor腳...全自動(dòng)扭力實(shí)驗(yàn)機(jī),全自動(dòng)扭力實(shí)驗(yàn)儀 參考價(jià):面議
全自動(dòng)扭力實(shí)驗(yàn)機(jī),全自動(dòng)扭力實(shí)驗(yàn)儀本機(jī)適用于各種產(chǎn)品之相關(guān)扭力測(cè)試.螺絲,帶螺紋產(chǎn)品,NB轉(zhuǎn)軸、手機(jī)(單體轉(zhuǎn)軸扭力、成品扭轉(zhuǎn)壽命試驗(yàn))、LCD Monitor腳...全自動(dòng)扭力測(cè)試機(jī),全自動(dòng)扭力儀 參考價(jià):面議
全自動(dòng)扭力測(cè)試機(jī),全自動(dòng)扭力儀本機(jī)適用于各種產(chǎn)品之相關(guān)扭力測(cè)試.螺絲,帶螺紋產(chǎn)品,NB轉(zhuǎn)軸、手機(jī)(單體轉(zhuǎn)軸扭力、成品扭轉(zhuǎn)壽命試驗(yàn))、LCD Monitor腳座、...高壓蒸煮試驗(yàn)儀,高壓蒸煮試驗(yàn)裝置 參考價(jià):面議
高壓蒸煮試驗(yàn)儀,高壓蒸煮試驗(yàn)裝置適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性...蒸煮老化測(cè)試機(jī),高壓蒸煮測(cè)試儀 參考價(jià):面議
蒸煮老化測(cè)試機(jī),高壓蒸煮測(cè)試儀適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能...高壓蒸煮試驗(yàn)箱 參考價(jià):面議
高壓蒸煮試驗(yàn)箱適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),相關(guān)之產(chǎn)...UV紫外光老化箱 參考價(jià):面議
UV紫外光老化箱類比陽光中UV段光譜的熒光紫外燈,并結(jié)合控溫、供濕等裝置來類比對(duì)材料造成變色、亮度、強(qiáng)度下降、開裂、剝落、粉化、氧化等損害的陽光(UV段)高溫、...UV紫外光老化測(cè)試機(jī) 參考價(jià):面議
UV紫外光老化測(cè)試機(jī)*類比陽光中UV段光譜的熒光紫外燈,并結(jié)合控溫、供濕等裝置來類比對(duì)材料造成變色、亮度、強(qiáng)度下降、開裂、剝落、粉化、氧化等損害的陽光(UV段)...UV紫外光老化試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià):面議
UV紫外光老化試驗(yàn)機(jī),UV紫外光老化試驗(yàn)箱*類比陽光中UV段光譜的熒光紫外燈,并結(jié)合控溫、供濕等裝置來類比對(duì)材料造成變色、亮度、強(qiáng)度下降、開裂、剝落、粉化、氧化...UV抗老化測(cè)試儀 參考價(jià):面議
UV抗老化測(cè)試儀類比陽光中UV段光譜的熒光紫外燈,并結(jié)合控溫、供濕等裝置來類比對(duì)材料造成變色、亮度、強(qiáng)度下降、開裂、剝落、粉化、氧化等損害的陽光(UV段)高溫、...UV耐老化測(cè)試機(jī),UV耐老化測(cè)試儀 參考價(jià):面議
UV耐老化測(cè)試機(jī),UV耐老化測(cè)試儀*類比陽光中UV段光譜的熒光紫外燈,并結(jié)合控溫、供濕等裝置來類比對(duì)材料造成變色、亮度、強(qiáng)度下降、開裂、剝落、粉化、氧化等損害的...UV耐老化試驗(yàn)機(jī),UV耐老化試驗(yàn)箱 參考價(jià):面議
UV耐老化試驗(yàn)機(jī),UV耐老化試驗(yàn)箱*類比陽光中UV段光譜的熒光紫外燈,并結(jié)合控溫、供濕等裝置來類比對(duì)材料造成變色、亮度、強(qiáng)度下降、開裂、剝落、粉化、氧化等損害的...UV抗老化試驗(yàn)機(jī),UV抗老化試驗(yàn)箱 參考價(jià):面議
UV抗老化試驗(yàn)機(jī),UV抗老化試驗(yàn)箱*類比陽光中UV段光譜的熒光紫外燈,并結(jié)合控溫、供濕等裝置來類比對(duì)材料造成變色、亮度、強(qiáng)度下降、開裂、剝落、粉化、氧化等損害的...高空模擬試驗(yàn)箱,高空模擬環(huán)境箱 參考價(jià):面議
高空模擬試驗(yàn)箱,高空模擬環(huán)境箱國防工業(yè),航天工業(yè)自動(dòng)化零組件,汽車部件,電子、電器零組件,塑料、化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品在高低溫低氣壓?jiǎn)雾?xiàng)或同時(shí)作用下...信賴性環(huán)境箱,信賴性環(huán)境試驗(yàn)箱 參考價(jià):面議
信賴性環(huán)境箱,信賴性環(huán)境試驗(yàn)箱適用于國防工業(yè),航天工業(yè)自動(dòng)化零組件,汽車部件,電子、電器零組件,塑料、化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱、耐濕、耐寒、耐干...可靠性測(cè)試設(shè)備,信賴性檢驗(yàn)設(shè)備 參考價(jià):面議
可靠性測(cè)試設(shè)備,信賴性檢驗(yàn)設(shè)備適用于國防工業(yè),航天工業(yè)自動(dòng)化零組件,汽車部件,電子、電器零組件,塑料、化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱、耐濕、耐寒、耐干...手機(jī)反復(fù)跌落儀,手機(jī)反復(fù)跌落臺(tái) 參考價(jià):面議
手機(jī)反復(fù)跌落儀,手機(jī)反復(fù)跌落臺(tái)適用于行動(dòng)(手機(jī))、對(duì)講機(jī)、電子詞典、樓寓對(duì)講、CD/MD/MP3等小型消費(fèi)類電子制品及零部件之自由落下試驗(yàn)。符合標(biāo)準(zhǔn):JIS C...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)