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產(chǎn)地	國產(chǎn)	加工定制	否
速度	0～250.0 km/h

機動車非接觸速度儀CTM-8C 非接觸速度儀

標準配置名稱

技術(shù)參數(shù)及規(guī)格要求

：系統(tǒng)功耗小于3W（靜態(tài)功耗1W）；可在-20℃～45℃，濕度30%～80%的環(huán)境下正常使用；測量范圍與精度滿足表中要求：

序號	項目	測量范圍	分辨率	精度
1	速度	0～250.0 km/h	0.01 km/h	0.5%
2	距離	0～999999.999 m	1 mm	0.2%
3	時間	0～99999.999 s	1 ms	0.1%
4	減速度	0～14.9 m/s2	0.01 m/ s2	1%
5	MFDD	0～9.999 m/s2	0.001 m/ s2	1%

★采用光電傳感器，確保能采集隧道內(nèi)等無gps信號實驗環(huán)境處的實驗參數(shù)；測試數(shù)據(jù)可通過無線傳輸?shù)脑O備實時在筆記本電腦上顯示并存儲。

產(chǎn)品名稱：數(shù)字式選頻電平表
產(chǎn)品型號： CS5123

數(shù)字式選頻電平表型號：CS5123
概述
CS5123數(shù)字式選頻電平表是新一代載波通信、高頻保護測試儀表。
200Hz—2000KHz的工作頻段，包括了話路、載波通道、通信電纜/網(wǎng)絡電纜傳輸測試的300路以下載波通道所有頻譜。尤其適合電力載波系統(tǒng)通道衰減、雜音（雜波）干擾、諧波失真；收、發(fā)信機信號的快速捕獲并自動測量；阻波器、結(jié)合濾波器等性能指標測試。該儀表電平測量范圍寬、選擇性好、固有失真低。是理想的、高質(zhì)量的電平測試儀表。
特點

★智能化、數(shù)字化、一鍵式的功能界面使得儀表的測試十分簡單。
★體積小、重量輕。僅重約2.2Kg。
★高頻繼電保護通道自動測試功能。
★頻率自動搜索功能，可同時測出未知頻率及其電平值。
★選頻表可測＋41dB電平。
★同軸、平衡都具有四種阻抗：75Ω、100Ω、600Ω、∞(0Ω)
★采用電子電位器自動校準電平。
★頻率電平步進值可以在1Hz至9.999KHz之間任意設定。
★電平測試具有10dB換檔和0.1dB分辨率。
★320×240型漢字點陣大屏幕液晶屏，LED背光，全中文界面。
★測試結(jié)果本機記憶、本機閱讀和電腦打印功能。
★其中本機記憶、本機閱讀功能的增加可以隨時察看多達百次的測試結(jié)果。
★ 交直流電源三種供電方式：
A交流：使用220Ⅴ±10% （50Hz）交流適配器供電。
B直流：本機內(nèi)置可充電鋰離子電池供電；
外接可充電鋰離子電池供電、待機時間長達約8小時。

技術(shù)指標

頻率測量范圍：
頻率自動跟蹤范圍200Hz～2000kHz，輸入電平大于-40 dB。
A:寬頻：10kHz～620kHz～1860kHz～2000kHz
B:選頻：200Hz～620kHz～2000kHz
200Hz至2000KHz誤差： ±2×10－6
頻率響應誤差（以0dB檔，75Ω，80KHz為基準）：
A:寬頻：10kHz～620kHz ±0.2dB
620kHz～2000kHz ±0.5dB
B:選頻：200Hz～620kHz ±0.2dB
620kHz～2000kHz ±0.5dB
電平測量范圍：
A:寬頻測量范圍：（同軸/平衡輸入）－50dB 至＋41dB
B:選頻測量范圍：（同軸/平衡輸入）－100dB至＋41dB
電平換檔誤差（以75Ω、0dB檔80KHz為基準）：±0.2dB
零電平誤差（以75Ω、0dB檔80KHz為基準）： ±0.2dB
電平刻度誤差（以75Ω、0dB檔80KHz為基準）：±0.2dB
輸入阻抗：
同軸 75Ω、100Ω、600Ω、∞(高阻抗)
平衡 75Ω、100Ω、600Ω、∞(高阻抗)
選擇性：
A:20Hz帶寬（適合測試10KHz以下頻段）
Δа＝3dB的帶寬: 約20Hz
±150Hz 阻帶衰減≥60dB
B:1.74KHz帶寬（適合測試10KHz以上頻段）
Δа＝3dB的帶寬: 約1.74KHz
±6KHz 阻帶衰減≥60dB
固有失真衰減：
200Hz至2000KHz 提高靈敏度50 dB≥60dB
中頻、鏡頻干擾衰減： ≥60dB
回波損耗： ≥35dB
平衡輸入及縱向干擾衰減： 0.2KHz至620KHz ≥40dB
機內(nèi)固有雜音： ≤可測電平25dB
電平時間穩(wěn)定性： 1小時約±0.2dB； 7小時約±0.3dB
電平溫度穩(wěn)定性： 0℃至 +45℃ 約±0.2dB
MTBF（可靠性）：約3000H
安全要求：
符合GB6587.1規(guī)定的Ⅱ組要求，
其中額定工作范圍:0℃至+40℃
本機功耗：約4VA
儀表外形尺寸：120 mm×260mm×180 mm
儀表重量：約2.2Kg

產(chǎn)品名稱：雙組合四探針方阻/電阻率測試儀雙電測四探針測試儀
產(chǎn)品型號：KDB-3

雙組合四探針方阻/電阻率測試儀雙電測四探針測試儀型號：KDB-3

KDB-3雙組合測試儀是根據(jù)標準SEMI MF1529設計，雙組合測試方法使用四探針的方式不同于其他ASTM測量半導體電阻率或薄層電阻的方法。在本測試方法中，在測試樣品的每個測量位置上，以兩種不同的方式（配置）將探針連接到提供電流和測量電壓的電路中。四探針的這種使用法通常被稱為“雙配置"或“配置切換"測量。單組合四探針相比，用較小間距的探針頭就可以進行高精度的測量，從而可獲得更高的晶片薄層電阻變化的空間分辨率。
儀器特點如下：
1、配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時監(jiān)測全過程中的電流變化，使操作更簡便，測量更精確。
數(shù)字電壓表量程：0—199.99mV 靈敏度：10μV 輸入阻抗：1000ΜΩ
基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度)
2、可測電阻率范圍：10—4 —1.9×104Ω·cm。
可測方塊電阻范圍：10—3 —1.9×105Ω/□。
3、設有電壓表自動復零功能，當四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時，電壓表指零，只有1、4探針接觸到硅片，測量電流渡過單晶時，電壓表才指示2、3探針間的電壓（即電阻率）值；同樣，當四探針頭1、3探針間未有測量電流流過時，電壓表指零，只有1、3探針接觸到硅片，測量電流渡過單晶時，電壓表才指示2、4探針間的電壓（即電阻率）值，避免空間雜散電波對測量的干擾。
4、流經(jīng)硅片的測量電流由高度穩(wěn)定（萬分之五精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響，整機測量精度＜3%。
電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、儀器采用觸點電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器（＞10萬次），在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù)，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。
6、可選配軟件進行數(shù)據(jù)采集,可進行雙組合或單組合測量，實現(xiàn)自動切換電壓檔位、讀取相應電壓值，根據(jù)不同方法計算電阻率或方塊電阻值；軟件可對測量數(shù)據(jù)進行分析，如平均值，大值、小值、大百分變化率、平均百分變化率、徑向不均勻度等內(nèi)容。
7、可配KDDJ-3電動測試架，自動上下運行，使測量更方便快捷。
8、四探針頭采用上*的紅寶石軸套導向結(jié)構(gòu)，使探針的游移率減小，測量重復性提高