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產(chǎn)地	國產(chǎn)	加工定制	否
溫度	-30℃~+60℃

一體化里氏硬度計 便

一、產(chǎn)品概述

◆ 是一種*的袖珍型硬度檢測儀器，攜帶方便
◆ TD100配有D型沖擊裝置
◆ 直接測試大型、重型的試件或已安裝*性的組裝部件
◆ 可測試六種硬度制（HV、HRA、HRC、HRB、HB、HV、HS）
◆ 可外接打印機，打印測試結(jié)果
◆ 英文界面，背光顯示
◆ 傳感器跟機身連接保證測量數(shù)據(jù)更精確
◆ 依據(jù)里氏硬度測量原理，可以對多種金屬材料進行檢測; 具有軟件校準功能
◆ 可預先設置硬度值上、下限，超出范圍自動報便用戶批量測試的需要
◆ 液晶上有剩余電量指示圖標，可實時顯示電池剩余電量；具有充電過程指示，操作者可隨時了解充電程度。
◆ 有USB接口，可以方便、快捷地與PC機進行數(shù)據(jù)交換。可配備微機軟件，具有傳輸測量結(jié)

◆ 環(huán)境溫度：操作溫度-20℃~+60℃
◆ 儲存溫度：-30℃~+60℃
◆ 相對濕度<90%
◆ 周圍環(huán)境五強烈振動，無強烈磁場，五腐蝕性介質(zhì)及嚴重粉塵

TD100里氏硬度計是一種新型的袖珍式一體化硬度計，主要于測試金屬材料的硬度，具有測試精度高、體積小、操作容易、攜帶方便，測量范圍寬的特點。里氏硬度計是根據(jù)里氏（Dietmar Leeb）硬度測試原理設計而成，測出里氏硬度值經(jīng)過程序自動轉(zhuǎn)換成布氏，洛氏，維氏，肖氏等硬度值，還可以配置各種測試配件，來滿足于各種測試條件和環(huán)境.主要于金屬材料的快速硬度測試，特別適宜對大型零部件及不可拆卸部件的現(xiàn)場硬度測試。
一體化里氏硬度計 便攜式筆式硬度計 TD100
四、技術參數(shù)

◆ 硬度制：里氏、布氏、洛氏B、洛氏C、維氏、肖氏
◆ 測量范圍：（170-960）HLD,（17-68.5）HRC,（19-651）HB,（80-976）HV,（30-100）HS,（59-85）HRA,（13 -100）HRB
◆ 測量方向：360°（垂直向下、斜下、水平、斜上、垂直向上）
◆ 相對誤差±0.8%、示值重復性*.8（HLD=800）（示值誤差和重復性表一）
◆ 沖擊裝置：D型沖擊裝置（測試范圍表）
◆ 測量工件的曲率半徑：Rmin=10mm
◆ 測量工件的zui大硬度值：976HV
◆ 顯示：高清晰點陣液晶，EL背光
◆ 數(shù)據(jù)存儲：zui大500組（沖擊次數(shù)32~1）
◆ 上下限設置范圍：同測量范圍
◆ 打印機：可外接打印機
◆ 工作電壓：3.6V（內(nèi)置鋰電池及充電電路）
◆ 持續(xù)工作時間：約200小時（不開背光燈）
◆ 通訊接口標準：USB1.1通訊接口
◆ 外形尺寸：（220×24×55）mm
◆ 重量：約0.180kg（主機）
◆ 材料：鋼和鑄鋼，合金工具鋼，不銹鋼，灰鑄鐵，球墨鑄鐵，鑄鋁合金，銅鋅合金（黃銅），銅錫合金（青銅），純銅，鍛鋼

五、儀器特點

◆ 經(jīng)濟，適合各個消費層次的購買使用
◆ 低功耗，待機時間長，可以連續(xù)工作200個小時
◆ 操作簡單使用方便“傻瓜"式操作
◆ 配有USB接口，可連接電腦打印機
◆ 造型美觀，符合身體力學，更方便操作者使用

筆式硬度計/硬度計　型號：NORS80

NORS 80里氏硬度計是一款*的掌上型金屬硬度測試儀。該儀器具有重量輕、易操作、集成化設計、高對比顯示、低操作溫度及高精度等特點，可以廣泛應用于測量幾乎所有磁性、非磁性金屬材料，并具有里氏、洛氏C、洛氏B、洛氏A、布氏、維氏、肖氏及強度單位轉(zhuǎn)換；特別小型的體積使其能夠在其它硬度儀難以測量的狹小空間內(nèi)進行測量。

NORS 80具有4組4000個數(shù)據(jù)的存儲空間，內(nèi)置的3.7V鋰離子電池可通過電腦的USB接口直接充電，也可通過獨立的電池充電器充電。

該儀器還具有一個非常*的功能—可以通過更換沖擊體實現(xiàn)D/DL探頭的互換。這種*的2合1探頭相當于2個獨立的探頭。通過增加相應的附件（DL沖擊體），該儀器可用于測量非常狹窄的表面如槽底，齒輪等使用D探頭測量不到的位置。

標準配置：主機 1

內(nèi)置D型沖擊裝置 1

USB線 1

充電器 1

毛刷 1

操作手冊 1

測值報告 1

攜帶盒 1

藍牙打印機 1

產(chǎn)品名稱：數(shù)字式四探針測試儀數(shù)字式四探針檢測儀
產(chǎn)品型號：SZT-2000

數(shù)字式四探針測試儀數(shù)字式四探針檢測儀　型號：SZT-2000
SZT-2000A型數(shù)字式四探針測試儀是根據(jù)四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀、塊狀
半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻進行測量，可以從10-6--105Ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料質(zhì)量監(jiān)測的必需儀器。
儀器為臺式結(jié)構(gòu)，分為電氣箱、測試架兩大部分，用戶可以根據(jù)測試需要安放在一般工作臺或者工作臺上，測試架由探頭及壓力傳動機構(gòu)、樣品架組成，耐磨和使用壽命長的特點。探頭內(nèi)設有彈簧壓力裝置，壓力從0—2Kg連續(xù)可調(diào)，測試架設有手動和電動兩種裝置供用戶選購。
儀器電氣箱主要由高靈敏的直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定的恒流源組成，測量結(jié)果由數(shù)字直接顯示，儀器有自校量程，可以方便地對儀器的電氣性能進行校驗。
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、測量范圍廣、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點，儀器于半導體材料廠、器件廠、科學研究部門、高等院校，對半導體材料的電阻性能測試及工藝檢測。
儀器主要技術指標：
1．范圍：電阻率10-4—103Ω—cm，可擴展至105Ω—cm，分辯率為10-6Ω—cm
方塊電阻10-3—103Ω /□
電阻10-6—105Ω
2．可測半導體尺寸：直徑Φ15—150mm
3．測量方式：軸向、斷面均可（手動測試架）
4．數(shù)字電壓表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
(2)測量誤差 0.2mV檔±（0.3%讀數(shù)+8字）
2 mV檔以上±（0.3%讀數(shù)+2字）
(3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋105Ω
20mV檔以上>108Ω
(4)顯示3 1/2位數(shù)字顯示，0—1999
具有極性和過載自動顯示，小數(shù)點、單位自動顯示
5．恒流源：（1）電流輸出：直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào)，由交流電源供給
（2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔
（3）電流誤差：±（0.3%讀數(shù)+2字）
6．四探針測試探頭（1）探頭間距：1mm (2)探針機械游率：±0.3%
(3) 探針：Φ0.5mm (4)壓力：可調(diào)
7. 測試架：
（1）手動測試架：探頭上升及下降由手動操作，可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測試。
（2）電動測試架：探頭的上升和下降由電動操作，設有自動控制器控制，探頭上升時間1S—99S可調(diào)，探頭下降時間1S—99S可調(diào)，壓力恒定可調(diào)（由砝碼來設定）同時設有腳踏控制裝置由腳踏開關控制探頭上下運動。
8.電流：220V±10% 50HZ或60HZ：功率消耗<35W
9．外形尺寸：電氣箱130×110×400mm