主題內(nèi)容與適用范圍：

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗的鹽霧試驗方法.

本標(biāo)準(zhǔn)適用于考核材料及其防護(hù)層的鹽霧腐蝕的能力，以及相似防護(hù)層的工藝質(zhì)量比較，也可以用來考核某些產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的能力.

本標(biāo)準(zhǔn)（）不適用作為通用的腐蝕試驗方法.

引用標(biāo)準(zhǔn)：

GB 2421 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程     總則

GB 2422 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程     名詞術(shù)語

GB 2424.10 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程   大氣腐蝕加速試驗的通用導(dǎo)則

對試驗設(shè)備的要求：

1  用于制造試驗設(shè)備的材料必須需耐鹽霧腐蝕和不影響試驗結(jié)果.

2  試驗設(shè)備中工作空間的條件應(yīng)該保持在本標(biāo)準(zhǔn)5章規(guī)定的限度之內(nèi).

3  有足夠大的容積,并能提供均勻的試驗條件,且試驗時這此條件不受試驗樣品的影響.

4  鹽霧不得直接噴射到試驗樣品上.

5  試驗設(shè)備工作空間內(nèi)部和內(nèi)壁,以及其它部位的冷凝液不得滴落在試驗樣品上.

6  試驗設(shè)備內(nèi)外氣壓必須平衡

試驗溶液：

1  鹽溶液采用氯化鈉（化學(xué)純.分析鈍）和蒸餾水或去離子水配制,其濃度（5±0.1）%（質(zhì)量百分比.）霧化后的收集液,除擋板回部分外,不得重復(fù)使用.

2  霧化前的鹽液的PH值在6.5-7.2（35±2℃）之間,配制鹽溶液時,可采用化學(xué)純的衡鹽或*的溶液來調(diào)整PH值,但濃度仍須符合4.1條的規(guī)定.

試驗條件：

1  試驗設(shè)備的工作試驗室內(nèi)的溫度為35±2℃. 

2  在工作空間內(nèi)任一位置,用面積為80CM²的漏斗收集霧化16h的鹽霧沉降量，平均每小時收集到1.0-2.0ml的溶液。

3   本標(biāo)準(zhǔn)采用連續(xù)霧化,的試驗持續(xù)時間為16.  24.  48.  96.  168.  336.  672h。

4   霧化時必須防止油污,塵埃等雜質(zhì)和噴射空氣的溫、濕度影響工作空間的試驗條件.