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基本信息

品牌：	3DFAMILY	型號：	ValidatorⅢ	操作方式：	自動
功能：	檢測、觀察、分析
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X射線熒光分析儀產(chǎn)品介紹

第三代3DFAMILY X射線熒光分析儀，采用世界上的硅SIPIN探測器（分辨率為150ev），實現(xiàn)了無液態(tài)氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自動切換的濾光片及透射式X射線球管，zui大程度地縮小了X射線源與被測物體的間距，從而在較低的電壓下達(dá)到同樣的激發(fā)效率，同時減少了漫射光的干擾，大大地提高了靈敏度和讀數(shù)的準(zhǔn)確性，重復(fù)性。

產(chǎn)品特點(diǎn)

1、在測定微量成分時，由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景，致使目標(biāo)峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調(diào)整出感度的輻射，進(jìn)一步提高了S/N的比值，從而可以進(jìn)行更高靈敏度的微量分析。
2、X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景，軟件可自動過濾背景對分析結(jié)果的干擾，
從而能確保對任何塑料樣品的進(jìn)行快速準(zhǔn)確的分析。
3、當(dāng)某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近，會使此時譜圖的波峰重疊在一起，由
此產(chǎn)生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發(fā)的軟件自動剝離重疊峰，確保了元素分析的正確性。
4、逃逸峰：由于采用的是Si針半導(dǎo)體探測器，因此當(dāng)X射線熒光在通過探測器的時候，如果某種元素
的含量較高（能量也會相應(yīng)的較高），其被Si吸收的概率也就越大。此時，光譜圖中在該元素的能量
值減去Si能量值的地方回產(chǎn)生一個峰，此峰即為逃逸峰。
5、在電壓不穩(wěn)的情況下，可對掃描譜圖的漂移進(jìn)行自動追蹤補(bǔ)償。

http://m.liuyangwu.com/st34565/product_5909227.html技術(shù)參數(shù)

分析原理			能量色散X射線熒光分析法
分析元素			Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）
			Na～U（任選：φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型）
檢出下限			Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
樣品形狀			zui大460×380mm（高150mm）
樣品			塑料/金屬/紙/涂料/油墨/液體
樣品室氣氛			大氣
X射線管	靶材		Rh
	管電壓		zui大50KV
	管電流		zui大1mA
X射線照射徑			1/3/5mm
防護(hù)			＜0.1mR/Hr （輻射低于電腦屏幕）
檢測器			硅SIPIN探測器
光學(xué)圖像觀察			倍率15倍
軟件			定性分析：自動定性（自動去背景/自動剝離重疊峰/自動補(bǔ)償逃逸峰/自動補(bǔ)償譜圖漂移）
			照射徑：1/3/5mm
			定量分析：基礎(chǔ)參數(shù)法/標(biāo)準(zhǔn)法/1點(diǎn)校正
計算機(jī)		CPU	PentiumIV1.8GHz以上
		內(nèi)存	256MB以上
		硬盤	20GB以上
		OS	WindoP
監(jiān)視器			17寸LCD
周圍溫度			10～35^。C（性能溫度）/5～40^。C（動作溫度）
周圍濕度			5～31^。C時溫度范圍：zui大相對濕度80%以下 /31～40^。C時溫度范圍：相對濕度50%以下
電源			AC110V/220V±10%、50/60HZ
消耗電力			1.3KVA以下（含計算機(jī)、LCD、打印機(jī)）
設(shè)備重量			約65kg（不含桌子、計算機(jī)）
外形寸法			600（W）×545（D）×435（H）mm