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涂層測(cè)厚儀

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產(chǎn)品型號(hào)CTG260

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更新時(shí)間：2018-05-31 21:15:08瀏覽次數(shù)：3364次

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北京時(shí)代創(chuàng)合科技有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：344條

所在地區(qū)：北京北京市

聯(lián)系人：孫小姐（經(jīng)理）

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

CTG260涂層測(cè)厚儀是一種經(jīng)濟(jì)實(shí)用型便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過(guò)使用不同的測(cè)頭，還可滿足多種測(cè)量的需要。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)*的儀器。

詳細(xì)介紹

CTG260高精度涂層測(cè)厚儀

產(chǎn)品概述：

測(cè)量原理：

CTG260采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鉻、鋅、銅、鋁、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

磁性法(F型測(cè)頭)：當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。

渦流法(N型測(cè)頭)：利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?，通過(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。

符合標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性方法

GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流方法

JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x

JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》

JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》

產(chǎn)品特點(diǎn)：

◆采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；

◆可使用6種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)；

◆具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；

◆具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；

◆設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；

◆可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；

◆具有存貯功能：可存貯495個(gè)測(cè)量值；

◆具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；

◆可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；

◆具有電源欠壓指示功能；

◆操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；

◆具有錯(cuò)誤提示功能，通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；

◆設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；

CTG260探頭技術(shù)參數(shù)表

測(cè)頭型號(hào)		F400	F1		F1/90		F10	N1		CN02
工作原理		磁感應(yīng)						電渦流
測(cè)量范圍（um）		0-400		0-1250		0-10000		0-1250(銅上鍍鉻0-40um)	10-200
低限分辨力(um)		0.1		0.1		10		0.1	1
示值誤差	一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)	±[3%H+1]				±[3%H+10]		±[3%H+1.5]	±[3%H+1]
	兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)	±[(1～3)%H+0.7]		±[(1～3)%H+1]		±[(1～3)%H+10]		±[(1～3)%H+1.5]	-
測(cè)量條件	zui小曲率半徑(mm)	凸 1		凸1.5	平直	10		3	平直
	基體zui小面積的直徑(mm)	ф3		ф7	ф7	ф40		ф5	ф7
	zui小臨界厚度(mm)	0.2		0.5	0.5	2		0.3	無(wú)限制

CTG260高精度測(cè)頭選用參考表

覆蓋層		有機(jī)材料等非磁性覆蓋層 (如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等)		非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
基體		覆蓋層厚度不超過(guò)100μm	覆蓋層厚度超過(guò)100μm	覆蓋層厚度不超過(guò)100μm	覆蓋層厚度超過(guò)100μm
如鐵、鋼	被測(cè)面積的直徑大于30mm	F400 型測(cè)頭 0～400μm	F1 型測(cè)頭 0～1250μm	F400 型測(cè)頭 0～400μm	F1 型測(cè)頭 0～1250μm
等磁性金屬		F1 型測(cè)頭 0～1250μm	F10 型測(cè)頭 0～10mm	F1 型測(cè)頭 0～1250μm	F10 型測(cè)頭 0～10mm
	被測(cè)面積的直徑小于30mm	F400 型測(cè)頭 0～400μm	F400 型測(cè)頭 0～400μm	F400 型測(cè)頭 0～400μm	F400 型測(cè)頭 0～400μm
			F1 型測(cè)頭 0～1250μm		F1 型測(cè)頭 0～1250μm
如銅、鋁、	被測(cè)面積的直徑大于5mm	N1 型測(cè)頭 0～1250μm		僅用于銅上鍍鉻N1 型測(cè)頭 0～40μm
黃銅、鋅、錫
等有色金屬
塑料、印刷線路非金屬基體	被測(cè)面積的直徑大于7mm	-	-	CN02 型測(cè)頭10～200μm

基本配置：
CTG260主機(jī)            1臺(tái)
F1或N1測(cè)頭           1支
校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片            1套（含試片5片，基體1塊）
電池                  2節(jié)
通訊電纜              1根

通訊軟件 1張

手提密碼箱 1個(gè)

文件 1套（合格證，保修卡，說(shuō)明書等）

可選附件：

F1、N1、F400、F1/90°、F10、CN02等各種用途探頭，微型打印機(jī)。

關(guān)鍵詞：涂層測(cè)厚儀測(cè)厚儀測(cè)量?jī)x 標(biāo)準(zhǔn) 通訊電纜

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