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北京華測(cè)試驗(yàn)儀器*產(chǎn)品

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北京華測(cè)耐漏電起痕試驗(yàn)儀適用于照明設(shè)備、低壓電器、家用電器、機(jī)床電器、電機(jī)、電動(dòng)工具、電子儀器、電工儀表、信息技術(shù)設(shè)備的研究、生產(chǎn)和質(zhì)檢部門(mén)。北京華測(cè)耐漏電起痕試驗(yàn)儀也適用于絕緣材料、工程塑料、電氣連接件、輔件行業(yè)。也適用于電氣能力驗(yàn)證計(jì)劃與技術(shù)研討會(huì)中的有關(guān)CHEARI-PT003耐電痕化指數(shù)測(cè)試。

詳細(xì)介紹

北京華測(cè)耐漏電起痕試驗(yàn)儀
一、北京華測(cè)耐漏電起痕試驗(yàn)儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
耐漏電起痕試驗(yàn)儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
二、北京華測(cè)耐漏電起痕試驗(yàn)儀規(guī)格：
北京華測(cè)耐漏電起痕試驗(yàn)儀是根據(jù)GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL 746A、ASTM D 3638-92、DIN 53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
HCLD-200耐漏電起痕試驗(yàn)儀是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸( 2mm × 5mm )的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)(30s)定高度( 35mm )滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%NH 4 CL)，用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(CT1)和耐電痕化指數(shù)(PT1)。
HCLD-200北京華測(cè)耐漏電起痕試驗(yàn)儀適用于照明設(shè)備、低壓電器、家用電器、機(jī)床電器、電機(jī)、電動(dòng)工具、電子儀器、電工儀表、信息技術(shù)設(shè)備的研究、生產(chǎn)和質(zhì)檢部門(mén)，也適用于絕緣材料、工程塑料、電氣連接件、輔件行業(yè)。，也適用于電氣能力驗(yàn)證計(jì)劃與技術(shù)研討會(huì)中的有關(guān)CHEARI-PT003耐電痕化指數(shù)測(cè)試。
三、北京華測(cè)耐漏電起痕試驗(yàn)儀技術(shù)參數(shù)：
控制系統(tǒng)：西門(mén)子PLC+觸摸屏控制系統(tǒng)。具有精度高，反應(yīng)快等優(yōu)點(diǎn)。
電極材料試驗(yàn)電極-純金，電極接桿–純銀
電極尺寸 (2mm ± 0.1mm)×(5mm ± 0.1mm)×(40mm ± 5mm ),電極5mm或12mm可選,30°±2°斜面；電極桿，純銀，電極頭純金
電極距離 4.0mm± 0.01mm，夾角60°；
電極壓力 1.00N±0.001N；
試液電阻 A液0.1% 23℃，3.95±0.05Ωm，B液1.98±0.05Ωm；
液滴體積 20滴0.380g～0.480g，50滴0.997g～1.147g (可微調(diào)節(jié))；
液滴高度 35mm± 5mm (可調(diào)節(jié))；
液滴時(shí)間 30s±0.1s(優(yōu)于標(biāo)準(zhǔn))(數(shù)顯，可預(yù)置調(diào)節(jié))，50滴時(shí)間24.5min±2min；
液滴滴數(shù) 1～9999(數(shù)顯，可預(yù)置)；
試驗(yàn)風(fēng)速 0.2m/s(新標(biāo)準(zhǔn))；
試驗(yàn)電壓 100V～600V(25V分度，可調(diào)節(jié))；
電源壓降 1.0A± 0.1A時(shí)8%；
起痕判斷 0.50A±10%，2.00s±10%；
外形尺寸寬1120mm ×深520mm ×高1350mm，排氣孔徑Φ100mm；
測(cè)量范圍：100-700V 50-60Hz。
電壓：220V 50-60Hz。