手持式光譜分析儀無需真空和氦氣保護(hù)就能分析鎂、鋁、硅、硫、磷等輕元素。打破實(shí)驗(yàn)室環(huán)境條件的限制，實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場實(shí)時(shí)多重采樣、快速分析礦石品位、進(jìn)行礦石評(píng)定，巖芯分析、礦脈分布，繪制礦石分布圖等，是地質(zhì)勘查、礦山開采，礦石貿(mào)易、環(huán)境檢測(cè)的*工具。

手持式光譜分析儀主要特點(diǎn)：

1、簡體中文界面，自校準(zhǔn)功能，開機(jī)后無需等待即可測(cè)量；

2、分析元素zui小從鎂開始多達(dá)40多種，分析范圍從PPM級(jí)至90%以上；

3、實(shí)時(shí)分析數(shù)據(jù)和圖譜現(xiàn)實(shí)；

4、測(cè)量*無損，不限樣品形狀限制；

5、自動(dòng)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)和圖譜，無需人工干預(yù)；

6、主機(jī)一體化設(shè)計(jì)，高強(qiáng)度密封，放水、防塵、抗沖級(jí)，一鍵式定時(shí)測(cè)量，操作更簡便，內(nèi)置Bruker專業(yè)操作軟件，計(jì)算和顯示速度快；

7、儀器適應(yīng)高溫、低溫、潮濕，雨天、沙塵等惡劣環(huán)境、儀器長時(shí)間不測(cè)量時(shí)會(huì)自動(dòng)進(jìn)入待機(jī)狀態(tài)，以節(jié)省電源和保護(hù)儀器；

8、X射線管耐用性強(qiáng)，采用Peltier半導(dǎo)體恒溫制冷計(jì)算，選配GPS定位系統(tǒng)，可精確定位礦體位置并繪制礦脈分布圖。

手持式光譜分析儀主要技術(shù)參數(shù)：

1、檢測(cè)器：XFlash 硅漂移檢測(cè)器（SDD），檢測(cè)速度快；分辨率：145eV；計(jì)數(shù)率：250Kcps

2、高分辨率Si-PIN檢測(cè)器；分辨率：195eV

3、激發(fā)源：X射線管，RH靶，zui大電壓50kv

4、測(cè)量范圍：Mg-U/Ti~U

5、濾波器：5位自動(dòng)濾波器

6、工作條件：溫度范圍：-20℃~ +55℃；濕度范圍：0~95%

7、電源：可交、直流供電；可充電鋰電池，可連續(xù)工作8-12小時(shí)

8、顯示器：240×320彩顯；65536像素；背景光可調(diào)；觸摸屏

9、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：能存儲(chǔ)數(shù)萬個(gè)數(shù)據(jù)及光譜

10、冷卻系統(tǒng)：Peltier半導(dǎo)體冷卻器

11、操作語言：包括中、英文在內(nèi)共14種語言（用戶自選）

12、校準(zhǔn)：Duplex校準(zhǔn)

13、認(rèn)證證書：CE、TUV、ISO9001、IECEE

14、電池充電器：交流充電器；110/220V，50/60Hz

15、樣品zui高溫度：500℃/150℃

16、重量尺寸：1.23Kg 25cm(L)×28cm(W)×9cm(H)

17、運(yùn)輸保證：Pelican袖珍儀器箱，減震、抗壓、防水、密封