MS2675D-IIB表面電阻測(cè)試儀廠家  

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MS2675D-IIB表面電阻測(cè)試儀廠家   概述：

測(cè)試電壓：DC　250V/500V/1000V
測(cè)量范圍：1～10000（MΩ）,±5%,任意設(shè)定
定    時(shí)：1～99（s）
主要功能：測(cè)試電壓、絕緣電阻、時(shí)間同時(shí)顯示，單片微處理器控制測(cè)試，且有合格/不合格判定，聲光報(bào)警。
含表面電阻測(cè)試裝置。
性能特點(diǎn)
符合GB4706.1-2005等安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。MS2675D-ⅡB型表面電阻測(cè)試儀型絕緣電阻測(cè)試儀是一種測(cè)量各種電子元件、介質(zhì)材料、整機(jī)等絕緣性能的測(cè)量?jī)x器。具有測(cè)試速度快、穩(wěn)定性好、測(cè)試精度高，操作簡(jiǎn)單，攜帶方便等特點(diǎn)。本儀器符合電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)GB6587.1《電子測(cè)量?jī)x器環(huán)境實(shí)驗(yàn)總綱》中的第Ⅱ組的要求

  參數(shù)：  

參數(shù) 名稱 表面電阻測(cè)試儀
型號(hào) MS2675D-IIB
測(cè)試電壓 DC 250V/500V/1000V
測(cè)量范圍 1～10000（MΩ）
顯示精度 ≤±5%
時(shí)間控制 1～99（s）±5%手控∞
顯示方式 液晶顯示,菜單引導(dǎo)操作
測(cè)試判別 合格/不合格 聲光報(bào)警 
控制方式 智能單片微處理器控制
功率  -
重量 約7kg

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