優(yōu)鴻測(cè)控技術(shù)(上海)有限公司
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所 在 地上海市
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更新時(shí)間:2021-04-08 15:48:31瀏覽次數(shù):589次
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三輪測(cè)試儀根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)《識(shí)別卡-測(cè)試方法》ISO/IEC10373-3-2001
優(yōu)勢(shì)說(shuō)明:《識(shí)別卡-測(cè)試方法》ISO/IEC10373-3-2001,三輪測(cè)試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試,適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試
詳細(xì)說(shuō)明:
三輪測(cè)試儀根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)《識(shí)別卡-測(cè)試方法》ISO/IEC10373-3-2001
UHICIC卡根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試,適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試,將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間,將芯片在三個(gè)鋼制滾輪間循環(huán)測(cè)試100次,并在芯片上加一個(gè)8N的力,經(jīng)過(guò)往復(fù)循環(huán)測(cè)試后驗(yàn)證ICC觸點(diǎn)芯片功能是否正常。測(cè)試儀配有額外的一個(gè)15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)*的測(cè)試。
二、IC卡主要技術(shù)參數(shù):
1、型號(hào):UHICC
2、測(cè)試輪循環(huán)次數(shù):前后循環(huán)各50次
3、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考: Mcd
4、CQM測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考: P-22
5、測(cè)試方法參考: 10.3.22
6、CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2
7、電源: 110-220 V 50/60 Hz.
8、測(cè)試廠家:優(yōu)鴻測(cè)控技術(shù)
9、外形尺寸(mm): 長(zhǎng)255 ×寬235 ×高285
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主營(yíng)產(chǎn)品:拉伸強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī),抗拉強(qiáng)度測(cè)試儀,彎曲強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī),ROR測(cè)試機(jī)、屈服強(qiáng)度測(cè)試儀,萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)
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