LED老化試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

型號:KW-GD-80   內(nèi)形尺寸：400×500×400    外箱尺寸：970×1360×970 

型號:KW-GD-150  內(nèi)形尺寸: 500×600×500    外箱尺寸：1070×1460×1070
型號:KW-GD-225  內(nèi)形尺寸：500×750×600    外箱尺寸：1070×1610×1170
型號:KW-GD-408  內(nèi)形尺寸: 600×850×800    外箱尺寸：1170×1710×1280
型號:KW-GD-800  內(nèi)形尺寸：1000×1000×800  外箱尺寸：1550×1850×1300

型號:KW-GD-1000 內(nèi)形尺寸：1000×1000×1000 外箱尺寸：1550×1850×1500

1、產(chǎn)品型號：KW-GD-80/KW-GD-150/KW-GD-225/KW-GD-408/KW-GD-800/KW-GD-1000

2、容積分別：80L、150L、225L、408L、800L、1000L

3、溫度范圍：Z：0℃～150℃，T：-20℃～150℃，F(xiàn)：-40℃～150℃，S：-70℃～150℃ 

4、溫度波動度：≤±0.5℃

5、溫度均勻度：≤±2℃

6、濕度波動：±2.5%R.H

7、升溫速率: 1.0～3.0℃/min 

8、降溫速率: 1.0～1.3℃/min

符合標(biāo)準(zhǔn)：GJB150.3 高溫試驗(yàn) GJB150.4 低溫試驗(yàn)GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB/T2423.1-2001 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法 GB/T2423.2-2001 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法 GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗(yàn)方法 IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法 IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法 

控制器操作運(yùn)行畫面：

*制冷機(jī)組：

用于行業(yè)：

LED老化試驗(yàn)箱是LED行業(yè)產(chǎn)品*的可靠性試驗(yàn)設(shè)備。用于測試LED、LCD、LED光電、LED顯示器、LED模組、電子、電器、連接器、五金、LED、LCD、模組、模塊、手機(jī)、塑膠、顯示器、二三極管、機(jī)箱、電鍍、插頭、電腦、玩具、電源、電線、IC、磁鐵、線路板、馬達(dá)、電機(jī)、汽車配件、家電、通信、化工、涂料、科研、航天、、模組、家具、主板、集成電路、太陽能光伏等領(lǐng)域。

設(shè)備用途：

LED高低溫老化試驗(yàn)箱用來測試LED產(chǎn)品及以上產(chǎn)品的可靠性能。模擬環(huán)境溫度有高低溫、高溫、低溫、高低溫循環(huán)、高低溫恒定等不同溫度試驗(yàn)。模擬LED產(chǎn)品及材質(zhì)經(jīng)過高溫、低溫交替變化后是否有故障、質(zhì)變、無法正常工作的情況，可以滿足不同的高低溫要求。高低溫試驗(yàn)箱是實(shí)驗(yàn)室品檢的*之設(shè)備。