深圳萬測試驗(yàn)設(shè)備有限公司
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更新時間：2025-07-22 11:45:25瀏覽次數(shù)：437次
聯(lián)系我時，請告知來自 儀表網(wǎng)1.系統(tǒng)介紹本系統(tǒng)按照翻轉(zhuǎn)電位差法測量裂紋原理設(shè)計(jì)，可測量3種試樣的裂紋（a/W）數(shù)據(jù)，分別是CK管狀試樣、CT緊湊試樣，SEB試樣
1.系統(tǒng)介紹
本系統(tǒng)按照翻轉(zhuǎn)電位差法測量裂紋原理設(shè)計(jì)，可測量3種試樣的裂紋（a/W）數(shù)據(jù)，分別是 CK 管狀試樣、CT 緊湊試樣，SEB 試樣。采用高精度儀表(Agilent)及控制系統(tǒng)(doli)?？稍诳諝庵校g介質(zhì)，高低溫環(huán)境等不同的環(huán)境中進(jìn)行測試。
裂紋擴(kuò)展測量采集系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖
相關(guān)的儀表或功能卡
1.1 Agilent 34970A，數(shù)據(jù)采集通道掃描單元，配插入式 Agilent 34901A 20 通道多路轉(zhuǎn)換器模塊，插入34970A 后面板#100槽。
1.2 Agilent 34420A，納伏表，用以采集小信號電壓，前面板#1通道接入待采集電位信號。
1.3 Agilent 6611C，恒流源，提供高精度恒定驅(qū)動電流；
1.4 NI PCI-GPIB 488.2，通訊控制卡，插在計(jì)算機(jī) PCI槽中，驅(qū)動程序 NI 488.2 V3.0.2
2. 軟件介紹
系統(tǒng)主界面
測試界面
2.1 支持功能導(dǎo)航，用戶依據(jù)導(dǎo)航界面進(jìn)入相應(yīng)的試驗(yàn)功能模塊；
2.2 支持?jǐn)U展試驗(yàn)功能，用戶可以自行追加試驗(yàn)項(xiàng)目；
2.3 支持 9 種不同的試驗(yàn)方式，1/2/4 種試樣不同組合測量；
2.4 支持同時測量 4 個試樣，分別計(jì)算測量顯示數(shù)據(jù)；
2.5 支持公制單位和英制單位；
2.6 支持前端電位測量，也支持參考電位測量；
2.7 支持實(shí)時采集并顯示電位數(shù)據(jù)、a/W，并計(jì)算電位采樣標(biāo)準(zhǔn)差；
2.8 支持實(shí)時繪制裂紋擴(kuò)展曲線；
2.9 支持試驗(yàn)過程中調(diào)整控制參數(shù)并即時應(yīng)用；
2.10 支持自動和人工試驗(yàn)日志記錄；
2.11 支持試驗(yàn)終止后恢復(fù)功能；
2.12 支持掉電后試驗(yàn)恢復(fù)動能；
2.13 支持采集數(shù)據(jù)掉電保留；
3.試驗(yàn)簡介
3.1 試樣
3.2 采集儀表
3.2.1 Agilent 34970A，數(shù)據(jù)采集通道掃描單元，配插入式 Agilent 34901A 20 通道多路轉(zhuǎn)換器模塊，插入34970A 后面板#100槽。
3.2.2 Agilent 34420A，納伏表，用以采集小信號電壓，前面板#1通道接入待采集電位信號。
3.2.3 Agilent 6611C，恒流源，提供高精度恒定驅(qū)動電流。
3.3 軟件試驗(yàn)界面
設(shè)置好參數(shù)后開始采集，試驗(yàn)中有相關(guān)曲線查看，數(shù)據(jù)實(shí)時保存。
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