雙棱鏡光干涉實(shí)驗(yàn)儀 光干涉實(shí)驗(yàn)儀 型號：HAD-SGS-II

1826年法國科學(xué)家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將一束相干光的波前分成兩部分，形成分波面干涉，利用測量干涉條紋間距(毫米量級),求得光的波長(納米量級)。此光干涉實(shí)驗(yàn)的物理思想、實(shí)驗(yàn)方法與測量技巧,具有很深的教學(xué)價(jià)值。
儀器特點(diǎn)：      
●  導(dǎo)軌和轉(zhuǎn)盤采用高強(qiáng)度鋁合金材料、燕尾槽結(jié)構(gòu)、轉(zhuǎn)盤靈活、不會(huì)生銹、經(jīng)久耐用。
技術(shù)參數(shù)：      
●  導(dǎo)軌：長80.0cm，分度值1mm；  

●  滑塊5只，其中1個(gè)滑塊上帶轉(zhuǎn)動(dòng)裝置；  

●  帶轉(zhuǎn)盤的狹縫，縫寬0.03-0.04mm；     
●  測微目鏡和支架，測微目鏡量程0-8mm，分度值0.01mm；  

●  光源：半導(dǎo)體激光器，光波長650.0nm，工作電壓直流3V。
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：
●  觀察雙棱鏡的干涉現(xiàn)象；     
●  測量激光器的波長。
 （注：鈉光燈及電源選配）。