HASB40B固體體積電阻率及表面電阻率測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》（等同IEC 60093）和GB/T 10064-2006《測(cè)量固體絕緣材料絕緣電阻的實(shí)驗(yàn)方法》（等同IEC 60167）而設(shè)計(jì)和制造的。集高阻和微電流功能為一體的測(cè)量?jī)x器。主要用于各種絕緣材料的體積電阻率、表面電阻率和絕緣電阻及微電流的測(cè)量

HASB40B固體體積電阻率及表面電阻率測(cè)試儀，高量程達(dá)2×10¹⁵Ω。

適用于高阻值絕緣材料、電工產(chǎn)品、各類元器件及電線電纜的絕緣電阻的測(cè)量

型號(hào)	測(cè)試電壓		測(cè)量范圍		時(shí)間
	V	允差	Ω	精度	min
HASB40B	100 250 500 1000	±5%	0.2×10^{6 -}2×10⁹ 0.2×10¹⁰- 2×10¹² 0.2×10¹³- 2×10¹⁵	±3%	1-99 連續(xù) 可調(diào)

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數(shù)字固體體積電阻率及表面電阻率測(cè)試

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