恒電位控制范圍：±10V

 恒電流控制范圍：±2.0A

 電位控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV

 電流控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)

 電位靈敏度：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz)

 電流靈敏度：<10pA

 電位上升時間：﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A)

 電流量程：2A～200nA, 共8檔

 參比電極輸入阻抗：10¹²Ω||20pF

 大輸出電流：2.0A

 槽壓輸出：±21V

 電流掃描增量：1mA @1A/mS

 CV和LSV掃描速度：0.01mV～10000V/s

 電位掃描電位增量：0.076mV @1V/mS

 CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s

 DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s

 SWV頻率：0.001～100KHz

 CV的小電位增量：0.075mV

 AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz，20bit @1kHz

 電流與電位量程：自動設(shè)置

 DA分辨率：16bit，建立時間：1μS

 低通濾波器 ：8段可編程

 通訊接口：USB2.0

 儀器重量：6.5Kg

 外形尺寸（cm）：36.5(W)X30.5 (D)X16 (H)

 信號發(fā)生器

 頻率響應(yīng)：10μHz～115KHz

 交流信號幅值：1mV～2500mV

 頻率精確度：0.005%

 直流偏壓：-10V～+10V

 DDS輸出阻抗：50Ω

 波形：正弦波，三角波，方波

 正弦波失真率：<1%

 掃描方式：對數(shù)/線性，增加/下降

 信號分析器

 大積分時間：10⁶個循環(huán)或者10⁵S

 測量時間延遲：0～10⁵秒

 小積分時間：10mS 或者一個循環(huán)的長時間

 直流偏置補償

 電位補償范圍：-10V～+10V

 電流補償范圍：-1A～+1A

 帶寬調(diào)整：自動或手動設(shè)置, 共8級可調(diào)

功能方法

DP-CS120

DP-CS150

DP-CS300

DP-CS310

DP-CS350

DP-CS360

穩(wěn)態(tài)極化

 開路電位測量（OCP）

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 恒電位極化（i-t曲線）

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 恒電流極化

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 動電位掃描（TAFEL曲線）

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 動電流掃描（DGP）

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暫態(tài)極化

 任意恒電位階梯波

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 任意恒電流階梯波

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 恒電位階躍（VSTEP）

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 恒電流階躍（ISTEP）

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 快速電位脈沖

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 快速電流脈沖

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計時分析

 計時電位法（CP）

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 計時電流法（CA）

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 計時電量法（CC）

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伏安分析

 線性掃描伏安法（LSV）

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 線性循環(huán)伏安法（CV）

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 階梯循環(huán)伏安法（SCV）

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 方波伏安法（SWV）

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 差分脈沖伏安法（DPV）

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 常規(guī)脈沖伏安法（NPV）

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 常規(guī)差分脈沖伏安法（DNPV）

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 交流伏安法（ACV）

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 二次諧波交流伏安（SHACV）

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溶出伏安

 恒電位溶出伏安

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 線性溶出伏安

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 階梯溶出伏安

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 方波溶出伏安

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交流阻抗

 電化學(xué)阻抗（EIS）～頻率掃描

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 電化學(xué)阻抗（EIS）～時間掃描

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 電化學(xué)阻抗（EIS）～電位掃描（Mott-Schottky曲線）

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腐蝕測量

 循環(huán)極化曲線（CPP）

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 線性極化曲線（LPR）

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 電化學(xué)噪聲（EN）

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 電偶腐蝕測量（ZRA）

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 氫擴(kuò)散測試（HDT）*

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電池測量

 電池充放電測試

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 恒電流充放電

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光電測量

 電致調(diào)光測量 *

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 光譜儀測量 *

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擴(kuò)展測量

 盤環(huán)電極測試 *

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 數(shù)字記錄儀

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 波形發(fā)生器

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 圓盤電機(jī)控制

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