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更新時(shí)間:2015-08-06 14:15:57瀏覽次數(shù):280次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 儀表網(wǎng)1.電子天平/ 型號(hào): LP-JJ1000
大稱量1000g,分辨率0.01g,秤臺(tái)尺寸 Φ135mm
詳細(xì)介紹:
產(chǎn)品說明
JJ系列電子天平/是繼T系列之后推出的更高精度的產(chǎn)品,憑借簡(jiǎn)單的操作,較高的精度和靈敏度獲得了顧客的青睞。它繼承了T系列的優(yōu)點(diǎn)并具備了自身的優(yōu)勢(shì),水平泡和水平調(diào)整腳保證天平自身和數(shù)據(jù)的穩(wěn)定,此外,天平配置有標(biāo)準(zhǔn)RS232接口,可連接打印機(jī)和計(jì)算機(jī)。
產(chǎn)品描述 外形
·3種稱重單位:克,克拉,金衡盎司 ·堅(jiān)固的鋁合金底座
·計(jì)數(shù)功能(取樣數(shù):1/10/20/50/100) ·塑料外殼,簡(jiǎn)單易清理
·全稱量去皮 ·應(yīng)變式傳感器
·自動(dòng)校準(zhǔn)功能 ·不銹鋼秤盤
·透明防風(fēng)罩
·綠色熒光顯示屏
型號(hào) | LP-JJ100 | LP-JJ200 | LP-JJ300 | LP-JJ500 | LP-JJ600 | LP-JJ1000 |
大稱量 | 110g | 200g | 300g | 500g | 600g | 1000g |
分辨率(d) | 0.01g | 0.01g | 0.01g | 0.01g | 0.01g | 0.01g |
檢定分度值(e) | 10d | 10d | 10d | 10d | 10d | 10d |
去皮范圍 | 0~110g | 0~200g | 0~300g | 0~500g | 0~600g | 0~1000g |
校準(zhǔn)重量 | 100g | 200g | 200g | 500g | 500g | 1000g |
秤臺(tái)尺寸 | Φ135mm | |||||
體積 | 213(長(zhǎng))×195(寬)×75(高)mm | |||||
供電 | AC220V±10% 50Hz±1Hz | |||||
使用溫度 | 0~40℃ | |||||
使用濕度 | ≤80%RH | |||||
串口 | RS232 | |||||
2.單晶少子壽命測(cè)試儀 少子壽命測(cè)試儀 型號(hào):GZ-LT-2
| GZ-LT-2型單晶少子壽命測(cè)試儀是參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于測(cè)量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測(cè)量,是半導(dǎo)體的常規(guī)測(cè)試項(xiàng)目之一。本儀器靈敏度較高,配備有紅外光源,可測(cè)量包括集成電路級(jí)硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶,以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測(cè)量等。 | ||||||||||||||||||||||||
| 本儀器根據(jù)通用方法高頻光電導(dǎo)衰退法的原理設(shè)計(jì),由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放大器,特制的InGaAsp/InP紅外光源及樣品臺(tái)共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機(jī)結(jié)構(gòu)緊湊、測(cè)量數(shù)據(jù)可靠。 | ||||||||||||||||||||||||
| 技 術(shù) 指 標(biāo) : | ||||||||||||||||||||||||
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3.漏電流鉗形表/漏電保護(hù)檢測(cè)儀 型號(hào):DH-2413F
DH-2413F-特點(diǎn)
●有特寬的夾鉗,非常適合夾三或四線(三相)的電線,可測(cè)其泄漏電流 |
型號(hào) | DH-2413F |
交流電流(50/60Hz) | 200mA/2/20/200A/1000A讀數(shù)的±1.5%±2位 |
交流電流(WIDE) | 200mA/2/20/200A/1000A |
被測(cè)導(dǎo)體尺寸 | 大68mm |
安全標(biāo)準(zhǔn) | IEC61010-1 CAT.III 300V |
外界磁場(chǎng)影響 | 大交流 10mA |
頻率響應(yīng) | 40Hz~1kHz |
輸出 | 交/直流200mV時(shí)讀數(shù)2000 |
耐壓 | 3000V AC - 分鐘 |
電源 | 6F22(9V)×1 |
體積 | 250(L)×1 30(W)×50(D)mm |
重量 | 約570克 |
4.手持式四探針測(cè)試儀 四探針測(cè)試儀 型號(hào):GZ-RTS-3
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| RTS-3型手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,于測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精度高、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。如有需要可加配測(cè)試臺(tái)使用。 本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。 | ||||||||||||||||||||||||||
| 技 術(shù) 指 標(biāo) : | ||||||||||||||||||||||||||
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5.接地電阻測(cè)試儀/美國(guó)接地電阻測(cè)試儀/漏電保護(hù)檢測(cè)儀 型號(hào):DH-DET2-2
-- 微處理器控制,具有*的濾波功能。
-- *的移頻設(shè)計(jì)。
-- 高精度
-- 清晰、明確的警示及錯(cuò)誤提示。
儀器說明
DH-DET2/2是一種全自動(dòng)數(shù)字式接地電阻測(cè)試儀,具有微處理器控制,具有*的濾波功能。10mΩ~20KΩ量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換,可三端、四端測(cè)試??蓽y(cè)簡(jiǎn)單、復(fù)雜、大型的接地網(wǎng)的接地電阻(如發(fā)電廠、變電站、開關(guān)站、計(jì)算機(jī)和通信系統(tǒng)、電磁干擾(EMI)/射頻干擾(RFI)系統(tǒng)、公用天線電視(CATV)系統(tǒng)的接地,以及天線、*控制系統(tǒng)和系統(tǒng)底座的接地等),并可測(cè)土壤電阻率。3位半LCD大屏幕顯示。
DH-DET2/2*的移頻設(shè)計(jì)。其測(cè)試頻率可在100~160Hz之間以0.5Hz步進(jìn),可有效避開測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)強(qiáng)烈干擾源干擾頻率的影響,配合濾波處理使儀器能在強(qiáng)烈干擾場(chǎng)所正常測(cè)試。干擾抑制達(dá)40V。
高精度:±0.5% ±2位(23℃)
DH-DET2/2操作簡(jiǎn)單,測(cè)試迅速。充電電池一次充電可連續(xù)工作5個(gè)小時(shí)。
DH-DET2/2能夠測(cè)試大的接地系統(tǒng)。測(cè)試范圍寬、精度高、抗*力強(qiáng)。
儀器應(yīng)用
發(fā)電機(jī)、變電所、配電站精度系統(tǒng)。
計(jì)算機(jī),通訊系統(tǒng)精度。
EMI/RFI系統(tǒng)。
天線,總局精度系統(tǒng)。
CATA精度系統(tǒng)。
儀器規(guī)格
測(cè)試量程:0.01-19.99KΩ
分辯率:0.001歐姆,自動(dòng)定范圍
精度:±0.5% ±2位(23℃)
測(cè)試電流:50mA(峰值)
測(cè)試電壓:50V(峰值)
干擾抑制電壓:40V
大輸出電壓:50V
電源:充電電池
耐壓水平:任何兩個(gè)端子均可耐壓240Vac
尺寸: 245H×344W×158D㎜
重量:5㎏
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