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當前位置:上海思龍科學儀器有限公司>> 15JA測量顯微鏡
測量顯微鏡是光學計量儀器之一種,它的結構簡單,操作方便,適用范圍極廣,主要用途如下: 1.直角座標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線距離,刻線寬度,鍵槽寬度,狹縫寬度,通孔圓直徑等等。 2.轉動度盤測定角度,例如對刻度盤,樣板、量規(guī),鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。 3.用作觀察顯微鏡,以比較檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業(yè)的礦石標本。檢定印刷照相制版,檢驗紡織纖維等.
技術指標:
x軸移動測量范圍: 50毫米 y軸移動測量范圍: 13毫米
測量臺刻度盤分度范圍: 0°-360° 測量臺刻度盤之分度值: 1度
測量臺刻度盤游標讀數示值: 6" 測量精度:儀器值誤差(5+L/15)微米
主要參數 :
測量臺與物鏡間之zui大距離:80mm 測量工作臺直徑: 120毫米
儀器外形尺寸: 325x262x220mm 儀器重量級: 約10.6公斤
照明方式:雙光源(自然光/電光源)
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