千分尺用量塊32塊1.005-50mm技術(shù)參數(shù)

提供每個(gè)量塊實(shí)測(cè)值——為了使用戶更了解每個(gè)量塊的尺寸，實(shí)潤(rùn)提供了每個(gè)量塊的實(shí)測(cè)數(shù)值，更方便用戶的使用

量塊（32塊83塊/46塊/38塊/10塊/8塊/5塊塊規(guī)）系列

◆量塊是長(zhǎng)度計(jì)量的基準(zhǔn)，用于測(cè)量?jī)x器、量具和精密零件的調(diào)整和校正。

◆量塊即可單件使用，也可幾塊研合在一起使用。

◆量塊的精度以標(biāo)準(zhǔn)溫度20℃為準(zhǔn)。

◆選用滾鉻鋼（Gr15）、碳化鎢硬質(zhì)合金（YG8）和陶瓷氧化鋯（Gro2）制造。

◆量塊具有壽命長(zhǎng)、經(jīng)久耐用、高的耐磨性、高的尺寸穩(wěn)定性、抗磁性和耐腐蝕性。

◆精度及技術(shù)條件符合：ISO3650-1978；GB/T6093-2001；JISB7506-1978；DIN861-1980；GGG-G-15C-1975

◆裝在精致鋁盒、木盒內(nèi)供貨。

◆可根據(jù)客戶需求提供散件標(biāo)準(zhǔn)量塊和特殊規(guī)格的用量塊。

測(cè)量指南：

◆使用量塊時(shí)需要遵守以下要求：

a．使用盡可能少的量塊獲得所需尺寸；

b．盡可能地選用厚量塊；

c．先選次要數(shù)值，再選主要數(shù)值。

◆使用合適的工具清潔量塊。

◆檢測(cè)毛刺。使用光學(xué)平晶步驟如下：

a．清潔測(cè)量面。

b．使光學(xué)平晶與測(cè)量面輕輕接觸。

c．在測(cè)量面上緩緩滑動(dòng)光學(xué)平晶使光學(xué)干涉條紋顯示

d．在測(cè)量面上輕壓光學(xué)平晶，干涉條紋將消失。

e．清去毛刺

檢測(cè)1：如果無(wú)干涉條紋，則測(cè)量面上有毛刺或灰塵。

檢測(cè)2：如果干涉條紋消失，則平面上無(wú)毛刺。

檢測(cè)3：如果干涉條紋不消失，則緩緩移動(dòng)光學(xué)平晶;

如果干涉條紋始終在測(cè)量面的同一位置，則測(cè)量面上有毛刺；如果干涉條紋始終在光學(xué)平晶的同一位置，則平晶上有毛刺。

◆使用少量油均勻散布于整個(gè)測(cè)量面，再擦干油跡。

潤(rùn)滑脂、測(cè)量軸油，凡士林均可使用。

◆根據(jù)使用尺寸，使兩測(cè)量表面接觸，并研和一體。

千分尺用量塊32塊1.005-50mm技術(shù)參數(shù)