分析天平稱(chēng)量原理

分析天平是定量分析工作中重要、常用的精密稱(chēng)量?jī)x器。是分析操作中主要較常用的儀器，常規(guī)的分析操作都要使用天平，天平的稱(chēng)量誤差直接影響分析結(jié)果。

　　該產(chǎn)品具有精度高、反應(yīng)速度快、低維護(hù)、大量程、高精度、超穩(wěn)定、多功能等特點(diǎn)，整機(jī)質(zhì)感出眾、工藝嚴(yán)謹(jǐn)、精致美觀，廣泛應(yīng)用于科研、教育、醫(yī)療、冶金、農(nóng)業(yè)等行業(yè)。

　　分析天平的稱(chēng)量原理基于杠桿原理，就是一個(gè)杠桿加上一個(gè)力矩，以一側(cè)邊刀上的增重與橫梁偏轉(zhuǎn)角之間關(guān)系定義的，同樣的偏轉(zhuǎn)角需要的增重越小表示靈敏度越高。橫梁越輕，橫梁重心與中刀刃距離越近，則同樣偏轉(zhuǎn)角產(chǎn)生的重心力矩越小，需要與之平衡的邊刀上的增重越小，所以靈敏度越高，橫梁上設(shè)有可上下移動(dòng)的重心調(diào)節(jié)球，用來(lái)改變橫梁重心位置，以備調(diào)節(jié)靈敏度到正確值，靈敏度要與微分標(biāo)尺配合，不能高也不能低。

　　在安裝時(shí)應(yīng)合理選擇安裝地點(diǎn)，干燥、無(wú)雨雪滴漏的地方。如若分析天平為液晶顯示儀器，面板請(qǐng)用干布擦拭，嚴(yán)防沾水，以免損壞IC電子零件。

　　分析天平的校正方式：可以分為內(nèi)校型，外校型。所謂內(nèi)校，就是電子天平帶有內(nèi)部標(biāo)定砝碼，方便隨時(shí)調(diào)取，一鍵進(jìn)行標(biāo)定。外校型必須要按校正鍵，從外部放砝碼進(jìn)行人工校正。

分析天平稱(chēng)量原理