1MHz～3GHz，以10kHz分檔
 阻抗測量范圍寬，從200mΩ到3kΩ
在低試信號電平上具有優(yōu)良的測量重復性
基本精度為1%
高速測量:10ms
安捷倫 4287A射頻LCR測試儀在1 MHz～3 GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測量，以改進生產(chǎn)線上對電子元件進行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測量技術(shù)不同，采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進行精確測量。
生產(chǎn)率高、質(zhì)量可靠
安捷倫 4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量速度非?？?。此外，在小測試電流(100mA)處優(yōu)良的測試重復性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因為所需的取平均過程非常短。
系統(tǒng)組建簡單：
測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近，而不會使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。
便于使用
8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內(nèi)置統(tǒng)計分析功能可以提供監(jiān)視測試質(zhì)量和效率的過程?？蛇x用的LAN接口有助于統(tǒng)一進行生產(chǎn)監(jiān)控。此外，若干APC-7，SMD測試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用，從而無需制作夾具。
技術(shù)指標：
測量參數(shù)：|Z|，|Y|，L，C, R，D, Q, X，G，B，θ
測量電路形式：串聯(lián)和并聯(lián)
工作頻率：1 MHz～3 GHz
頻率分辨率：10 kHz
信號源特性：
振蕩器電平：5mVrms～0.25Vrms(輸出端開路)
電平顯示單位：V，I，dBm
連接器：APC-3.5
輸出阻抗(額定值)：50Ω
觸發(fā)：內(nèi)部，外部，手動和GPIB
阻抗測量范圍：200 mΩ～3 kΩ
基本測量精度：|Z|:1%；D:0.01
測量時間：10 ms
接口：GPIB，處理器接口
顯示器：8.4英寸彩色LCD顯示器
儲存：內(nèi)置HDD/FDD，備用SRAM存儲器
一般指標：
工作溫度/濕度：10～40℃/相對濕度15%～80%
預熱時間：30分鐘
電源要求：90V～132V,或198V～264V，47Hz～66Hz，500VA(zui大值)
尺寸：主機：426mm(寬)×234mm(高)×446mm(長)
主要技術(shù)資料：
4287A射頻LCR 測試儀產(chǎn)品介紹，p/n 5968-5443E
4287A技術(shù)指標，p/n 5968-5758E
LCR 測試儀，阻抗分析儀和測試夾具選購指南，p/n 5952-1430E