詳細(xì)摘要： 通過測(cè)量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長(zhǎng)的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。SunScan探測(cè)器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖。
產(chǎn)品型號(hào)：SunScan所在地：北京市更新時(shí)間：2025-09-15 在線留言
北京林音科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 通過測(cè)量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長(zhǎng)的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。SunScan探測(cè)器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖。
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詳細(xì)摘要： 廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測(cè)量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長(zhǎng)發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系， 本儀器用于400-帶700n ...
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