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TESA MICROBEVEL1 電子傾斜儀

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更新時間：2018-05-15 13:53:11瀏覽次數(shù)：357次

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北京北瑞科信儀器設(shè)備有限公司

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產(chǎn)品簡介

TESA MICROBEVEL1 電子傾斜儀

這些電子傾斜儀用于精密檢測小傾斜度，如平板的平面度測量以及機械上的幾何特征測量。
尤為適合在惡劣環(huán)境下使用。

詳細介紹

TESA MICROBEVEL1 電子傾斜儀

這些電子傾斜儀用于精密檢測小傾斜度，如平板的平面度測量以及機械上的幾何特征測量。

尤為適合在惡劣環(huán)境下使用。

v 瑞士制造

v 數(shù)字間隔:0.01和0.001mm/m

v BEVELtronic1-直角模式

v 基座長度: 150mm寬度45mm

v 帶有重力擺的全密封測量系統(tǒng)

v 鑄鐵基座,側(cè)面鍍鉻涂漆鋁殼

v 測量面:平面及棱形側(cè)面20-120mm直徑

v 反應(yīng)時間:<3秒

v 數(shù)字接口: RS485,異步,7字節(jié), 2 停頓字節(jié)無奇偶性, 9600波特

v 模擬接口: 每單元 1mV(100kΩ)

v 電力供應(yīng): 1個LRC6電池, 1.5V ,AA

v 電池使用時間: 100-140 小時

v 關(guān)鍵特征:55分鐘后自動斷電

v 操作溫度: 0-40℃

v 存儲溫度: -20-70℃

v 線膨脹系數(shù):≤0.1%℃在20±5℃相對于測量范圍

v 電磁兼容性: EN50081-1/-2

v EN50082-1/-2