成都海默科技有限責任公司
低測力,應用于太陽能硅片等粗糙度的測量,硅片表面線痕的測試。
■ 大型 LCD 屏幕窗口,易于清晰讀取。
■ 使用觸控式面板(具抗污性),操作簡易。
■ 可將數據儲存于記憶卡(選購品)。
■ 任意長度設定機能。
■ 僅按 PRINT 鍵即可藉由內藏式打印機打印出量測之結果(可選擇不同之打印方式)。
■ 內藏 充電電池,本體攜帶方便也可收置檢出器。
型號 SJ-210
平移范圍 17.5mm ( 5" )
成都日本三豐 SJ-210 便攜式粗糙度儀測量范圍 350μm ( ±150μm ) [12000μinch ( ±6000μinch ) ]
驅動 / 檢測元件 探測儀 :178-390/178-395
測頭 : 金剛石
測量力 :4mN/0.75mN
探測方式 : 微感應
評定輪廓 P , R
估計參數 Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Sm,S,Pc,P3z,mr
數字過濾 2CR-75%,2CR-75% PC,Gaussian-50%
截至 λC 0.25,0.8,2.5mm
波長 λS 2.5,8μm
取樣長度( L ) 0.25,0.8,2.5mm
顯示 :彩色 LCD
打印機:外置
數據輸出 通過 RS232C 接口 /SPC 輸出
電源通過 AC 適配器 / 電池(可充電)
尺寸 62×156.5×52mm
重量 0.48kg
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商 鋪:成都海默科技有限責任公司 http://m.liuyangwu.com/st42560/
主營產品:顯微鏡、工業(yè)內窺鏡、探傷儀、硬度計、試驗機、試驗箱
移動端:成都海默科技有限責任公司手機站
儀表網 設計制作,未經允許翻錄必究 .? ? ?
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