詳細摘要： 雙模式三維形貌儀特點：一臺設備上集成非接觸式白光干涉形貌儀+高精度原子力顯微鏡
產品型號：MFP-D所在地：北京市更新時間：2026-05-26 在線留言
北京中精儀科技有限公司
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詳細摘要： 美國Rtec公司的WLI1000三維輪廓儀/粗糙度儀測量系統沿著縱軸捕獲一系列位置的光強數據。通過白光干涉圖的形狀，干涉圖的局部相位或者是二者的結合來確定表面位...
產品型號：WLI1000所在地：北京市更新時間：2026-05-26 在線留言
詳細摘要： 產品介紹：美國Rtec公司變焦式三維形貌儀是微納米級質量保證的光學三維粗糙度輪廓儀，其原理是采用目前的自動變焦(Focus-Variation)技術。該技術將小...
產品型號：FV所在地：北京市更新時間：2026-05-26 在線留言
詳細摘要： 美國Rtec公司的WLI非接觸式光學輪廓儀測量系統沿著縱軸捕獲一系列位置的光強數據。通過白光干涉圖的形狀，干涉圖的局部相位或者是二者的結合來確定表面位置。本公司...
產品型號：WLI所在地：北京市更新時間：2026-05-26 在線留言
詳細摘要： This compact, table top atomic force microscope has all of the important feature...
產品型號：R-AFM100所在地：國外更新時間：2026-05-26 在線留言
詳細摘要： NP-AFM原子力顯微鏡NP-AFM是一套完整的納米形貌系統，它包括掃描樣品所需的所有附件：顯微鏡平臺，電子控制箱，電腦，探針，手冊和視頻顯微鏡。zui大樣品可...
產品型號：NP-AFM所在地：國外更新時間：2026-05-26 在線留言
詳細摘要： *的算法, 精密度, 高測量速度和易于使用的軟件允許用戶快速做分析和創(chuàng)建報告.
產品型號：LCI-1000所在地：國外更新時間：2026-05-26 在線留言
詳細摘要： 美國AIST公司的SmartSPM原子力顯微鏡是一種通用的掃描探針顯微鏡，適用于在大氣環(huán)境，液態(tài)以及可控氣氛條件下對各種樣品在納米等級上寬范圍的復雜表面進行研究...
產品型號：SmartSPM所在地：國外更新時間：2026-05-26 在線留言
詳細摘要： MOI磁光成像儀是美國IQ2公司為美國*,波音公司及各大航空公司專業(yè)制作的一款新型,快速,準確的測試儀器.MOI以其*的技術在美國航空器檢測,工業(yè)HDI產業(yè)開辟...
產品型號：308所在地：國外更新時間：2026-05-26 在線留言
詳細摘要： 本公司的WLI1000白光干涉儀測量系統沿著縱軸捕獲一系列位置的光強數據。通過白光干涉圖的形狀，干涉圖的局部相位或者是二者的結合來確定表面位置。本公司還有激光共...
產品型號：WLI1000所在地：北京市更新時間：2026-05-26 在線留言
詳細摘要： 壓痕和劃痕測試儀，配備6容易互換的機械頭，高倍率顯微鏡和成像模塊(AFM和3維形貌儀)。請求專家測試，目睹和了解更多信息
產品型號：NMYH所在地：北京市更新時間：2026-05-26 在線留言
詳細摘要： 美國Rtec高真空摩擦磨損試驗機可進行納米、宏觀和微觀尺度上的多重測試：- 靜態(tài)和動態(tài)摩擦測試- 超低速(0.1微米/秒)粘滑測試- 粗糙度，摩擦磨損測試- 四...
產品型號：MFT-H所在地：北京市更新時間：2026-05-26 在線留言
詳細摘要： MFT-3000型摩擦磨損試驗機可廣泛的應用于材料科學、薄膜涂層、生物、化工、石油、微電子、微型傳感器、半導體材料、自動控制、航空航天、汽車工業(yè)及機械工具的材料...
產品型號：MFT-3000所在地：北京市更新時間：2026-05-26 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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