詳細摘要： HemiView數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結構有關的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關信息，能夠測算出冠...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2025-08-26 在線留言北京渠道科學器材有限公司
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詳細摘要： HemiView數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結構有關的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關信息，能夠測算出冠...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2025-08-26 在線留言
詳細摘要： SunScan專業(yè)版冠層分析儀是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統(tǒng)，提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2025-08-25 在線留言
詳細摘要： 葉面積指數(shù)（LAI）是在生態(tài)學與氣候學中是重要的生物物理參數(shù)，在生態(tài)學及氣候學領域中有著廣泛的應用。TRAC PLUS植物冠層分析儀采用的創(chuàng)新技術，在冠層下方沿...
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