環(huán)形器技術(shù)指標以及測試方法：
光環(huán)形器的技術(shù)指標包括插入損耗(IL)、隔離度(IS)、串音(CT)、偏振相關(guān)損耗(PDL)、偏振模色散及回波損耗(RL)等。光環(huán)形器的插入損耗、隔離度、偏振相關(guān)損耗、偏振模色散的定義與光隔離器的基本相同，只不過對環(huán)形器而言，均指具體的兩個相鄰端口之間的指標，如端口1、2之間的或端口2、3之間的插入損耗、PDL、PMD等。光環(huán)形器的串音指兩個不相鄰端口之間理論上不能接收到光信號但實際中由于種種原因而接收到的功率以dB表示的相對值，如端口1輸入信號時，在端口3接收到的功率相對于輸入功率的dB值。
下面將介紹幾個關(guān)鍵參數(shù)的測試方法：
（1）把“光源線”插入“功率計”通道清零 （或用“單光源線”對功率計的A、B通道清零）
（2）把“光源線”與“端”相接，插“第二端”測插損IL1-2 、偏振PDL1-2 ；插“第三端”，打折“第二端”（即將環(huán)形器的第二端光纖線在手指上饒緊幾個線圈）測CT1-3；插“反射線”測反射RL1
（3）把“光源線”與“第二端”相接，插“第三端”測插損IL2-3 、偏振PDL2-3 ；插“端”，測隔離度IS2-1 ；插“反射線”測反射RL2
（4）把“光源線”與“第三端”相接，插“第二端”測隔離度IS3-2 、插“反射線”測反射RL3
