HAST高壓加速老化試驗箱用途：

　　半導體的PCT測試:主要是測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰?待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試,如果半導體封裝的不好,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路..等相關問題。

　　HAST高壓加速老化試驗箱的詳細信息:

　　一.選型示意：

　　◇R-HAST–350-2

　　◇R：艾思荔標志

　　◇PCT：高壓加速

　　◇350:內(nèi)容積￠×D)

　　◇2:壓力范圍

　　◇2:+0.5—2kg/cm2

　　◇3:+0.5—3kg/cm2

　　二.產(chǎn)品規(guī)格(mm)：

　　◇型號:HAST-250工作室尺寸:Φ250×D400外形尺寸D×W×H650×560×1000

　　◇型號:HAST-300工作室尺寸:Φ300×D500外形尺寸D×W×H700×650×1100

　　◇型號:HAST-400工作室尺寸:Φ400×D600外形尺寸D×W×H800×750×1150

　　◇型號:HAST-500工作室尺寸:Φ500×D700外形尺寸D×W×H900×850×1250

　　三.產(chǎn)品簡單介紹：

　　◇高壓鍋,PCT高壓加速壽命試驗機,PCT高壓蒸煮儀,高壓高濕蒸煮儀,HAST非飽和型高壓加速試驗機,加速老化

　　◇壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等),加快試驗過程,

　　◇縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

　　◆技術優(yōu)勢：

　　◇采用全自動補充水位之功能,試驗*中斷.

　　◇試驗過程的溫度、濕度、壓力,是真正讀取相關傳感器的讀值來顯示的,而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的,能夠真正掌握實際的試驗過程。

　　◇干燥設計,試驗終止采用電熱干燥設計確保測試區(qū)(待測品)的干燥,確保穩(wěn)定性。

　　◇精準的壓力/溫度對照顯示,*符合溫濕度壓力對照表要求。

　　艾思荔的主營產(chǎn)品有：HAST高壓加速老化試驗箱,HAST高度加速壽命試驗機,可程式恒溫恒濕試驗箱、高低溫熱濕試驗箱、步入式恒溫恒濕試驗室、高低溫試驗箱、快速溫變高低溫試驗機、冷熱沖擊試驗箱、溫度沖擊箱、鹽霧試驗機、鹽干濕復合鹽霧試驗機、老化試驗箱、高溫干燥箱、高溫烤箱、UV紫外線耐氣候試驗機、真空烤箱等可靠性環(huán)境試驗設備以及制程設備,有數(shù)十個系列近百種產(chǎn)品。