PCT測(cè)試儀用途：

　　半導(dǎo)體的PCT測(cè)試:主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?待測(cè)品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測(cè)試,如果半導(dǎo)體封裝的不好,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因：爆米花效應(yīng)、動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦贰⒎庋b體引腳間因污染造成之短路..等相關(guān)問題。

　　PCT測(cè)試儀的詳細(xì)信息:

　　一.選型示意：

　　◇R-HAST–350-2

　　◇R：艾思荔標(biāo)志

　　◇PCT：高壓加速

　　◇350:內(nèi)容積￠×D)

　　◇2:壓力范圍

　　◇2:+0.5—2kg/cm2

　　◇3:+0.5—3kg/cm2

　　二.產(chǎn)品規(guī)格(mm)：

　　◇型號(hào):HAST-250工作室尺寸:Φ250×D400外形尺寸D×W×H650×560×1000

　　◇型號(hào):HAST-300工作室尺寸:Φ300×D500外形尺寸D×W×H700×650×1100

　　◇型號(hào):HAST-400工作室尺寸:Φ400×D600外形尺寸D×W×H800×750×1150

　　◇型號(hào):HAST-500工作室尺寸:Φ500×D700外形尺寸D×W×H900×850×1250

　　三.產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹：

　　◇高壓鍋,PCT高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī),PCT高壓蒸煮儀,高壓高濕蒸煮儀,HAST非飽和型高壓加速試驗(yàn)機(jī),加速老化

　　◇壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等),加快試驗(yàn)過程,

　　◇縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。

　　◆技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

　　◇采用全自動(dòng)補(bǔ)充水位之功能,試驗(yàn)*中斷.

　　◇試驗(yàn)過程的溫度、濕度、壓力,是真正讀取相關(guān)傳感器的讀值來顯示的,而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計(jì)算出來的,能夠真正掌握實(shí)際的試驗(yàn)過程。

　　◇干燥設(shè)計(jì),試驗(yàn)終止采用電熱干燥設(shè)計(jì)確保測(cè)試區(qū)(待測(cè)品)的干燥,確保穩(wěn)定性。

　　◇精準(zhǔn)的壓力/溫度對(duì)照顯示,*符合溫濕度壓力對(duì)照表要求。

　　艾思荔的主營產(chǎn)品有：PCT測(cè)試儀,HAST高度加速壽命試驗(yàn)機(jī),可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫?zé)釢裨囼?yàn)箱、步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室、高低溫試驗(yàn)箱、快速溫變高低溫試驗(yàn)機(jī)、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、溫度沖擊箱、鹽霧試驗(yàn)機(jī)、鹽干濕復(fù)合鹽霧試驗(yàn)機(jī)、老化試驗(yàn)箱、高溫干燥箱、高溫烤箱、UV紫外線耐氣候試驗(yàn)機(jī)、真空烤箱等可靠性環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備以及制程設(shè)備,有數(shù)十個(gè)系列近百種產(chǎn)品。