HAST試驗(yàn)箱（）適用范圍：

產(chǎn)品廣泛用于航天、電工電子、低壓電器、通訊、光負(fù)太陽能組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠、國防工業(yè)、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、 半導(dǎo)體、高分子材料、大專院校、生物醫(yī)藥等領(lǐng)域。

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 
GB/T5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則 
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 
GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備 
GB/T5170.8-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 
GB/T5170.9-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備 
GB5170.18-87 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備 
GB5170.19-89 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備 
GB5170.20-90 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備

  HAST試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)：

★箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方、新穎并采用無反作用把手，操作簡(jiǎn)便。

★箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口不銹鋼（SUS304）鏡面板或304B氬弧焊制作而成，箱體外膽采用A3鋼板噴  

★采用微電腦溫度濕度控制器，控溫控濕精確可靠。

★大型觀測(cè)視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且采用多層玻璃，隨時(shí)清晰的觀測(cè)箱內(nèi)狀況。

★設(shè)有獨(dú)立限溫報(bào)警系統(tǒng)，超過限制溫度即自動(dòng)中斷，保證實(shí)驗(yàn)安全運(yùn)行不發(fā)生意外。

★可選配記錄儀，打印機(jī)能打印記錄設(shè)定參數(shù)和掃描出溫濕度變化曲線，4～20mA標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)。

★箱體左側(cè)配一直徑50mm的測(cè)試孔。

  HAST試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：
★溫度范圍：低溫：（A：+25℃； B：0℃；C：-20℃； D：-40℃；E：-60℃；F：-70℃）；高溫:100℃（150℃）
★試驗(yàn)箱內(nèi)部尺寸：按客戶要求制造
★濕度范圍：20%—98% R.H.（10%～98%R.H）；（5%～98%R.H為特殊選用條件）