高低溫沖擊試驗室（）：

節(jié)能高低溫試驗箱適用于航天產(chǎn)品，船舶兵器、高等校院、汽車、摩托車、信息電子、儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品及各種電子元器件在高低溫（交變）循環(huán)變化環(huán)境下，檢驗其各項性能指標。

該設(shè)備是按照下列標準之一或其結(jié)合為依據(jù)而制造的:

　　GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件

　　GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件

       GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件

　　GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件

　　GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備

　　GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備

　　GB2423.22-87電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗N:溫度變化試驗方法

　　GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法

　　GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法

　　GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法

　　GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗Db:交變濕熱試驗方法

　  GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導(dǎo)則