溫濕度交變試驗箱技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備
GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10586-89 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法

溫濕度交變試驗箱規(guī)格：
型號規(guī)格   工作尺寸（mm）
HL-80      400×500×400
HL -150     500×600×500
HL -225    500×600×750
HL -408    600×800×850
HL -800    800×1000×1000
HL -1000   1000×1000×1000

溫濕度交變試驗箱用途：
1.該試驗設(shè)備（）主要用于對產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗用。

2.該設(shè)備主要用于于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗。