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晶元芯片封裝UV紫外線老化實(shí)驗(yàn)箱,照明燈具防雨測試箱規(guī)格

◥型號：TS-408

◥內(nèi)箱尺寸：40×35×30cm

◥高溫槽溫度范圍：RT-100℃

◥低溫槽濕度范圍：-40℃～-10℃

◥試驗(yàn)箱沖擊溫度：高溫:RT-100℃ ；低溫: -10℃～-40℃

◥升溫時間：RT-100℃約需15分鐘

◥降溫時間：RT～-40℃約需60分鐘

◥沖擊時間:0.1～999.9小時,循環(huán)周期1～9999可設(shè)定.

◥沖擊恢復(fù)時間：高溫（100℃）沖擊30分鐘,低溫（-40℃）沖擊30分鐘；沖擊恢復(fù)時間:5分鐘以內(nèi).

◥試樣重量：1.5kg

◥結(jié)構(gòu)材質(zhì)：全機(jī)為SUS不銹鋼板霧面處理，內(nèi)箱為SUS#304鏡面不銹鋼

◥冷凍系統(tǒng)：復(fù)疊水冷式歐美*全封閉或半密閉式壓縮機(jī)組.

◥控制器：大型LED彩色觸控人機(jī)界面控制器or單顯LED觸控人機(jī)接口控制器.

◥安全保護(hù)裝置：無熔絲過載保護(hù)器，壓縮機(jī)過熱、過流、超壓、加熱干燒、箱內(nèi)超溫警報系統(tǒng).

◥配件：測試孔（φ50×1只），試料架（2組）

晶元芯片封裝UV紫外線老化實(shí)驗(yàn)箱,照明燈具防雨測試箱特性:

◥全新歐美之防爆把手,的造型設(shè)計,外觀質(zhì)感高水準(zhǔn).

◥采用大型人機(jī)觸控對話式LED人機(jī)接口控制器,操作簡單,學(xué)習(xí)容易,穩(wěn)定可靠.

◥沖擊方式采用風(fēng)格切換方式,將冷、熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測試目的.

◥沖擊時間0.1～999.9小時,循環(huán)周期1～9999次可設(shè)定.

◥可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動（手動）除霜.

◥運(yùn)轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線,異常及故障點(diǎn)顯示說明及排除方法.

◥歐美原裝高效率復(fù)迭壓縮冷凍機(jī)組,運(yùn)轉(zhuǎn)噪音地，省能源之設(shè)備

◥采用PID自動演算控制功能,溫度控制精度高

◥可作自動循環(huán)沖擊或手動選擇性沖擊并可選擇二槽或三槽式冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊.

◥可獨(dú)立擔(dān)當(dāng)高溫箱或低溫箱使用,一機(jī)三用.

◥采用對臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保（HFC）制冷劑R404、R23.

國產(chǎn)高溫低溫測試箱國產(chǎn)（三箱）執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法

◥GJB150.5 溫度沖擊試驗(yàn)

◥GJB360.7溫度沖擊試驗(yàn)

◥GB/2423.22 溫度沖擊試驗(yàn)。

晶元芯片封裝UV紫外線老化實(shí)驗(yàn)箱,照明燈具防雨測試箱設(shè)備構(gòu)造:

　　◆非線性高低溫試驗(yàn)箱國內(nèi)實(shí)力雄厚外殼由SUS304B制造；

　　◆試驗(yàn)箱試驗(yàn)空間為不銹鋼，采用不漏氣焊接工藝制造。試驗(yàn)箱試驗(yàn)空間備有樣品架支撐擱架，適合插入樣品架，且高度可調(diào)節(jié)。

　　◆試驗(yàn)箱試驗(yàn)空間與試驗(yàn)箱門之間為雙層硅樹脂橡膠襯墊，可有效增強(qiáng)試驗(yàn)箱在正常工作時的氣密性。

　　◆采用緊密的礦物棉隔離試驗(yàn)箱外殼與試驗(yàn)箱試驗(yàn)空間，達(dá)到低的熱量損失。

　　◆所有高低溫試驗(yàn)箱和高低溫濕熱試驗(yàn)箱均配備一個位于左側(cè)直徑為50mm的引線孔。

　　◆試驗(yàn)箱試驗(yàn)空間內(nèi)配備一個或二個（依照試驗(yàn)空間容積）軸流風(fēng)扇，軸流風(fēng)扇循環(huán)試驗(yàn)箱試驗(yàn)空間空氣，提供的溫度*性和穩(wěn)定性。

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