高低溫試驗(yàn)箱的操作技術(shù)參數(shù)：

波動(dòng)度：±0.5℃ 

均勻度：±2℃ 

升溫速率：3.0℃/min   （ 可按客戶(hù)要求定做） 

降溫速率：0.7～1℃/min    （可按客戶(hù)要求定做） 

外箱材料：冷軋板靜電噴塑/SUS304不銹鋼（任選一種） 

內(nèi)箱材料：SUS304不銹鋼板 

保溫材料：超細(xì)玻璃纖維保溫棉/硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡 

箱門(mén)密封：雙層耐高、低溫防老化及硬化精制硅膠密封條 

高低溫試驗(yàn)箱的操作溫度沖擊試驗(yàn)： 

※升溫/降溫速率不低于30℃/分鐘。溫度變化范圍很大，同時(shí)試驗(yàn)嚴(yán)酷度還隨著溫度變化率的增加而增加。

※溫度沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的差異主要是應(yīng)力負(fù)荷機(jī)理不同。溫度沖擊試驗(yàn)主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效，而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。

※溫度沖擊試驗(yàn)容許使用二槽式試驗(yàn)裝置；溫度循環(huán)試驗(yàn)使用單槽式試驗(yàn)裝置。在二槽式箱體內(nèi)，溫度變化率要大于50℃/分鐘。

※引起溫度沖擊的原因：回流焊，干燥，再加工，修理等制造、修理工藝中劇烈的溫度變化。

※加速應(yīng)力試驗(yàn)：加速試驗(yàn)是使用比在實(shí)際環(huán)境中更短的時(shí)間，對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行的加速試驗(yàn)，以考察其失效機(jī)理。※試驗(yàn)的加速就是采用加大應(yīng)力的方法促使試驗(yàn)樣品在短期內(nèi)失效，。但是必須注意避免其它應(yīng)力原因引起的失效機(jī)理。

ESS不是加速可靠性試驗(yàn)，主要適用于成品的可靠性篩選試驗(yàn)。

型號(hào)        工作室尺寸 （cm）

TS-150      W50×D50×H60   

TS-225      W50×D60×H75  

TS-408      W60×D80×H85   

TS-800      W80×D100×H100

TS-1000     W100×D100×H100   

TS-1500     W100×D150×H100 

溫度范圍 

A型: 0℃～+100℃（+150℃）

B型: -20℃～+100℃（+150℃）

C型: -40℃～+100℃（+150℃）

D型: -70℃～+100℃（+150℃）  

溫度循環(huán)試驗(yàn)：

※溫度循環(huán)就是將試驗(yàn)樣品曝露于予設(shè)的高低溫交替的試驗(yàn)環(huán)境中。

※為避開(kāi)溫度沖擊影響，試驗(yàn)時(shí)的溫度變化率必須小于20℃/分鐘。

※同時(shí)，為達(dá)到蠕變及疲勞損傷的效果，試驗(yàn)溫度循環(huán)為25℃～100℃，或者也可根據(jù)產(chǎn)品的用途使用0℃～100℃的循環(huán)試驗(yàn)，曝露時(shí)間為各1 5分鐘。

※環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)（ESS= Environmental Stress Screening）：

※對(duì)產(chǎn)品施加環(huán)境應(yīng)力促使早期失效產(chǎn)品存在的潛在缺陷盡快而予以剔除。設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)：

GB 10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 10592 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

GB2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

GB2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則