無錫高低溫試驗箱符合標(biāo)準(zhǔn)

GB/T10589-1989 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1試驗A規(guī)程：低溫試驗方法

GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2試驗B規(guī)程：高溫試驗方法

GJB150.3-1986高溫試驗

GJB150.4-1986低溫試驗

GJB1032-90環(huán)境應(yīng)力篩選方法

無錫高低溫試驗箱試驗功能特點

目的：加速應(yīng)力試驗 加速壽命試驗 環(huán)境應(yīng)力篩選試驗（ESS） 

試驗標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-202 MeTSod 107 IEC60749-25 JEDEC JESD22-A104-b IEC68-2-1 MIL-STD-2164-85 

試驗方法：溫度沖擊試驗 溫度循環(huán)試驗

試驗環(huán)境：比使用環(huán)境更嚴(yán)酷 極限使用環(huán)境

試樣：零部件 元器件，焊點（BGA，CSP） 成品 

試樣尺寸：小比較大 

試驗溫度范圍：-40（-55）～125（150）℃、 -40（-65）～125（150）℃、 -40（-0）～100℃ 

型號規(guī)格 

型號 TS-80  內(nèi)形尺寸D×W×H  400×400×500

※型號TS -225  內(nèi)形尺寸D×W×H  500×600×750

※型號TS-500  內(nèi)形尺寸D×W×H  700×800×900

※型號TS -800  內(nèi)形尺寸D×W×H  800×1000×1000

※型號TS -1000 內(nèi)形尺寸D×W×H  1000×1000×1000

溫度變化率：

1槽法：大于30℃/分鐘 （空氣） 

2槽法：大于50℃/分鐘 （空氣） 

1槽法：小于15℃/分鐘 （試樣） 

1槽法：小于20℃/分鐘 （空氣） 

加速系數(shù)：

100～500倍

比加速試驗加速系數(shù)小 10～20倍 

試驗結(jié)果：設(shè)計信息   生產(chǎn)品質(zhì)差異驗證

※溫度沖擊試驗： 

1.升溫/降溫速率不低于30℃/分鐘。溫度變化范圍很大，同時試驗嚴(yán)酷度還隨著溫度變化率的增加而增加。

2.溫度沖擊試驗與溫度循環(huán)試驗的差異主要是應(yīng)力負(fù)荷機理不同。溫度沖擊試驗主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效，而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。

3.溫度沖擊試驗容許使用二槽式試驗裝置；溫度循環(huán)試驗使用單槽式試驗裝置。在二槽式箱體內(nèi)，溫度變化率要大于50℃/分鐘。

溫度循環(huán)試驗：

1.溫度循環(huán)就是將試驗樣品曝露于予設(shè)的高低溫交替的試驗環(huán)境中。為避開溫度沖擊影響，試驗時的溫度變化率必須小于20℃/分鐘。同時，為達(dá)到蠕變及疲勞損傷的效果，試驗溫度循環(huán)為25℃～100℃，或者也可根據(jù)產(chǎn)品的用途使用0℃～100℃的循環(huán)試驗，曝露時間為各1 5分鐘。

2.環(huán)境應(yīng)力篩選試驗（ESS= Environmental Stress Screening）：

3.對產(chǎn)品施加環(huán)境應(yīng)力促使早期失效產(chǎn)品存在的潛在缺陷盡快而予以剔除。ESS不是加速可靠性試驗，主要適用于成品的可靠性篩選試驗。

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