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更新時(shí)間:2026-09-08 12:08:04瀏覽次數(shù):30次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 儀表網(wǎng)GDS-70有源晶振綜合測(cè)試儀采用矢量阻抗分析法,與傳統(tǒng)傳輸法相比具有更高的ESR測(cè)量精度和更寬的頻率覆蓋范圍,同時(shí)支持負(fù)阻特性測(cè)試和起振裕量評(píng)估,適合對(duì)晶振起振可靠性有要求的應(yīng)用。
GDS-70有源晶振綜合測(cè)試儀采用矢量阻抗分析法,與傳統(tǒng)傳輸法在測(cè)量原理上有本質(zhì)區(qū)別。傳輸法通過在晶體輸入端施加恒定幅度信號(hào),測(cè)量輸出端的傳輸響應(yīng),在諧振點(diǎn)處傳輸幅度出現(xiàn)峰值。傳輸法的優(yōu)點(diǎn)是電路簡單,但ESR測(cè)量精度受系統(tǒng)阻抗匹配影響大,且無法區(qū)分串聯(lián)諧振和并聯(lián)諧振。矢量阻抗分析儀則通過測(cè)量晶體兩端的電壓矢量和電流矢量,直接計(jì)算阻抗幅值和相角,在諧振點(diǎn)處阻抗呈現(xiàn)純阻性。GDS-70有源晶振綜合測(cè)試儀的ESR測(cè)量精度優(yōu)于±2%,能夠分辨0.1Ω級(jí)別的阻抗差異,遠(yuǎn)優(yōu)于傳統(tǒng)傳輸法的±10%精度。
在功能擴(kuò)展方面,矢量阻抗分析法還支持負(fù)阻特性測(cè)試和起振裕量評(píng)估。負(fù)阻測(cè)試通過在晶體回路中逐步增大串聯(lián)電阻,直至振蕩停止,此時(shí)的串聯(lián)電阻值即為晶振在工作電路中的負(fù)阻。起振裕量評(píng)估通過比較負(fù)阻與ESR的比值判斷振蕩可靠性。該儀器可自動(dòng)執(zhí)行負(fù)阻測(cè)試,幫助評(píng)估晶振在具體電路中的起振可靠性。對(duì)于需要測(cè)量負(fù)載諧振頻率FL的場(chǎng)景,儀器內(nèi)置可編程負(fù)載電容陣列,可在1pF至52pF范圍內(nèi)設(shè)定任意CL值,自動(dòng)測(cè)量對(duì)應(yīng)條件下的FL。矢量阻抗分析法還支持繪制導(dǎo)納圓圖,直觀展示晶體在諧振點(diǎn)附近的阻抗變化軌跡,幫助理解晶振的工作機(jī)理和等效電路行為。該儀器同時(shí)支持傳輸法測(cè)量,用戶可根據(jù)被測(cè)晶體類型選擇合適的測(cè)量方式。
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