磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)試片的應(yīng)用
三、本內(nèi)容對磁粉探傷所用的各種設(shè)備器材及其技術(shù)要求、探傷時(shí)機(jī)安排，不同的探傷實(shí)施方法及各自的特長與適用范圍、檢驗(yàn)程序與要領(lǐng)、顯示的磁痕判別與分類等進(jìn)行了扼要的描述和規(guī)定，它可作為任何部件磁粉探傷規(guī)程編制的依據(jù)。
四、一個(gè)有效的磁粉探傷方法，最基本的要求應(yīng)該是這樣的。其所用磁化方法建立于被檢件上的磁場，應(yīng)盡可能與缺陷預(yù)計(jì)方向垂直，且應(yīng)有足夠的場強(qiáng)；當(dāng)用選定的標(biāo)準(zhǔn)試片(塊)校驗(yàn)時(shí)，試片上要求檢出的人工缺陷處形成的漏磁場應(yīng)能充分吸附施加的磁粉，形成清晰可見的磁痕。
1標(biāo)準(zhǔn)試片及對比試片
1.1A型標(biāo)準(zhǔn)試片
1.1.1A型標(biāo)準(zhǔn)試片用來檢查探傷裝置、磁粉、磁懸液的綜合性能以及連續(xù)法中試件表面的有效磁場強(qiáng)度和方向、有效探傷范圍、探傷操作是否正確等。這種試片必須經(jīng)有關(guān)計(jì)量部門鑒定。
1.1.2A型標(biāo)準(zhǔn)試片分高、中，低三種靈敏度。其型號中的分?jǐn)?shù)值越小，則要求能顯示磁痕的有效磁場強(qiáng)度越高。此靈敏度不代表實(shí)際能檢測缺陷的大小。
1.1.3A型標(biāo)準(zhǔn)試片中有圓形和十字形人工槽，A型標(biāo)準(zhǔn)試片型號，相對槽深與材質(zhì)：
型 號：Al型標(biāo)準(zhǔn)試片分為A—15／100，A—30／100，A—60／100
試片相對槽深其分子為人工槽深度，分母為試片厚度。
靈敏度材料：高超高純低碳純鐵（C＜0.03%，HC＜80A/m經(jīng)退火處理）
1.I.4應(yīng)根據(jù)對探傷靈敏度的要求，選用相應(yīng)的A型標(biāo)準(zhǔn)試片。當(dāng)需要更強(qiáng)的有效磁場時(shí)，可用標(biāo)準(zhǔn)試片型號的倍數(shù)來表示，例如
A—30／100×2表示進(jìn)行探傷的磁化電流應(yīng)為A—30／100型試片上獲得磁痕的磁化電流的2倍。
1.1.5使用A型標(biāo)準(zhǔn)試片時(shí)，應(yīng)將沒有人工槽的一面置于外側(cè)，并用粘膠紙將試片緊貼在探傷面上。注意粘膠紙不可貼沒人工槽相對應(yīng)的部位。
1.1.6對A型標(biāo)準(zhǔn)試片施加磁粉時(shí)，應(yīng)采用連續(xù)法。
1.1.7A型標(biāo)準(zhǔn)試片的形狀、尺寸發(fā)生變化后，不得繼續(xù)使用。
1.2C型標(biāo)準(zhǔn)試片
1.2.1C型標(biāo)準(zhǔn)試片適用于焊接坡口等狹窄的部位，即因尺寸關(guān)系，使用A型標(biāo)準(zhǔn)試片有困難時(shí)，它可用來代替A型標(biāo)準(zhǔn)試片。這種
試片必須經(jīng)有關(guān)計(jì)量部門鑒定。
1.2.2C型標(biāo)準(zhǔn)試片材質(zhì)與A型標(biāo)準(zhǔn)試片相同。幾何尺寸如圖2所示。其厚度為50m，人工槽深度為8±1m。
1.2.3C型標(biāo)準(zhǔn)試片使用時(shí)沿分割線切成5mmXlOmm的小片。用適當(dāng)?shù)碾p面粘膠紙或粘結(jié)劑將有人工槽的一面緊貼在探傷面上。
1.2.4對C型標(biāo)準(zhǔn)試片施加磁粉時(shí)，應(yīng)采用連續(xù)法。5.2.5C型標(biāo)準(zhǔn)試片的形狀、尺寸、磁特性發(fā)生變化時(shí)，不得繼續(xù)使用。
1.3B型對比試片
1.3.1B型對比試片用來檢查探傷裝置、磁粉和磁懸液的綜合性能。
1.3.2B型對比試片采用電磁軟件，或與試件相同材質(zhì)的材料制成。其幾何尺寸如圖3所示。
1.3.3使用B型對比試片采用穿棒法連續(xù)磁化。
2探傷工序
2.1原則上應(yīng)在結(jié)束一切加工及處理工序后一定時(shí)間進(jìn)行探傷。若表面處理工藝會給缺陷檢測帶來困難時(shí)，則可在表面處理前
進(jìn)行探傷。
2.2對于滾動軸承等裝配件，如在探傷后無法*去除磁粉而影響產(chǎn)品質(zhì)量時(shí)，則應(yīng)在零件裝配前進(jìn)行探
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