環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備相關(guān)計(jì)量方法
1、產(chǎn)品在生產(chǎn)，儲(chǔ)存，運(yùn)輸和使用過(guò)程中不可回避地要隨環(huán)境條件的侵襲，這種環(huán)境條件侵襲通常有三種情況：
1)氣候環(huán)境條件----高溫，低溫，濕度，霉菌，鹽霧，砂塵，淋雨日照等
2)飛行環(huán)境條件----低溫低氣壓，高溫低氣壓，溫度沖擊，加速度，振動(dòng)，沖擊
3)運(yùn)輸環(huán)境條件----碰撞，振動(dòng)，沖擊等
為了適應(yīng)和經(jīng)受這些環(huán)境條件的侵襲，國(guó)內(nèi)外生產(chǎn)廠家不斷推出自己環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備以滿足市場(chǎng)的需求。
“九五"期間，七個(gè)地區(qū)(北京，上海，成都，西安，沈陽(yáng)，武漢，廣州)國(guó)防系統(tǒng)等60多單位投入環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備幾百余臺(tái)(箱)，統(tǒng)計(jì)分析其中80年代投入使用占61%，70年代投入使用占29%，60年代投入使用占10%，這些試驗(yàn)設(shè)備都較充分的發(fā)揮了作用。
2、現(xiàn)在實(shí)行的標(biāo)準(zhǔn)
● 美軍標(biāo)MIL-STO-810
● GJB150~20-86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法
● GB/T5170-96電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
● GB 2423電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)
● GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
● GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
● GB10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
二、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備若干計(jì)量問(wèn)題
1、溫度沖擊試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)
溫度沖擊試驗(yàn)：這種試驗(yàn)特點(diǎn)是僅在試驗(yàn)前后對(duì)產(chǎn)品性能進(jìn)行初始檢測(cè)和最終檢測(cè)，以判斷產(chǎn)品是否能耐受溫度的急劇變化，不要求產(chǎn)品在溫度變化過(guò)程中工作并達(dá)到性能要求，高低溫箱在試驗(yàn)過(guò)程中高低溫轉(zhuǎn)換一般規(guī)定此轉(zhuǎn)換時(shí)間小于5分鐘(這同時(shí)也是計(jì)量所要求達(dá)到的指標(biāo))。
溫度變化試驗(yàn)：考核產(chǎn)品在溫度變化期間耐抗能力和正常工作能力的試驗(yàn)，用一個(gè)試驗(yàn)箱對(duì)溫度變化的速率作出限制。如：10℃/min 15℃/min 20℃/min。
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