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PCT老化試驗箱zui主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引
一、結構形式：高低溫試驗箱整體式結構，即試驗箱體、制冷系統(tǒng)、空氣調(diào)節(jié)系統(tǒng)、電器控制柜、制冷機組為一整體，制冷機組位于箱體底部，電器控制部份置于試驗箱的側面，便于操作。二、箱體設計：1、工作室一端的風道
隨著我國科學技術迅速的發(fā)展，PCT老化試驗箱技術正逐步趨于成熟，*的提高了企業(yè)的工作效率，也*地推動了PCT老化試驗箱技術的發(fā)展，在PCT老化試驗箱控制技術大范圍應用的今天，它的作用正在逐步顯現(xiàn)出來，
氙燈耐氣候試驗箱采用能模擬全陽光光譜的氙弧燈來再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波，可以為科研、產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制提供相應的環(huán)境模擬和加速試驗。氙燈耐氣候試驗箱可用于新材料的選擇，改進現(xiàn)有材料或評估材料組成
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