鉑悅儀器（上海）有限公司武漢辦事處
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閱讀：76發(fā)布時間：2024-11-24
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• 產(chǎn)品介紹 •
全反射X射線熒光光譜儀
作為一種常見的元素含量分析手段，X 射線熒光（XRF）光譜法在科研、工業(yè)、生命科學等領域中都有著廣泛的應用。而全反射X射線熒光光譜儀的出現(xiàn)，更是大地拓展了XRF 的應用范圍，突破傳統(tǒng)XRF的檢出限，實現(xiàn)了液體、固體、薄膜中超微量元素的檢測，檢出限低至ppb級別。TXRF操作簡單，制樣便捷，無需耗材、氣體，僅需少量樣品即可實現(xiàn)樣品中元素的快速定量分析，在樣品稀缺、測試量大以及樣品種類多變的情況下，這一優(yōu)勢十分顯著。因此，TXRF是原子吸收光譜法（AAS），電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）或質(zhì)譜法（ICP-MS）等測試手段的良好補充，是生產(chǎn)、研究、檢測中元素含量分析的理想選擇。
應用領域廣泛
環(huán)境土壤，水質(zhì)，大氣顆粒物，植物葉片等；生命科學中血液，尿液，醫(yī)藥，法檢等。
TXRF光譜儀技術優(yōu)勢
· 檢出限低至ppb級別
· 樣品制備簡單，無需消解，免壓片
· 隨機配置制樣設備，無需其他耗材，測試成本低
· 檢測效率高，單次進樣量高達90個，能夠24小時連續(xù)運行
· 維護簡單，運營成本低
· 通用性，能夠?qū)崿F(xiàn)液體、固體、薄膜中超微量元素的定性定量檢測
· 通過軟件操作可實現(xiàn)設備自動校準，測試結(jié)果準確
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