詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：DektakXT臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能。
產(chǎn)品型號(hào)：DEKTAK XT所在地：上海市更新時(shí)間：2024-11-24 在線留言鉑悅儀器（上海）有限公司武漢辦事處
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鉑悅儀器（上海）有限公司武漢辦事處
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：DektakXT臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能。
產(chǎn)品型號(hào)：DEKTAK XT所在地：上海市更新時(shí)間：2024-11-24 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：Dektak XTL探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多大350mm*350mm的樣品
產(chǎn)品型號(hào)：Dektak XTL所在地：上海市更新時(shí)間：2024-11-24 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距離，而實(shí)際上，薄膜的表面是不平整，不連續(xù)的，且薄膜內(nèi)部存在著針孔、微裂紋、纖維絲、雜質(zhì)、晶格缺陷和表面吸附分子等。
產(chǎn)品型號(hào)：薄膜厚度所在地：上海市更新時(shí)間：2024-11-24 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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