深圳精誠儀器儀表有限公司
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所 在 地上海市
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更新時間：2025-09-12 13:45:58瀏覽次數(shù)：624次
聯(lián)系我時，請告知來自 儀表網(wǎng)XRF-2000先鋒鍍層測厚儀檢測電子電鍍,五金電鍍,化學鍍層厚度
主要檢測:鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等
x射線鍍層測厚儀,X-RAY膜厚儀,X熒光鍍層測厚儀
韓國XRF-2000X射線測厚儀功能結(jié)構(gòu)
韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀
檢測電子電鍍,五金電鍍,化學鍍層厚度
主要檢測:鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等
韓國XRF2000鍍層測厚儀
全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品）
測量樣品高度不超過3cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測試范圍：0.03－35um
可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
(單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等)
(雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等)
多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳,再鍍金等)
合金鍍層:如鐵上鍍錫銅等
測量時間：10－30秒
精度控制：
*層：±5%以內(nèi)
第二層：±8%以內(nèi)
第三層：±12%以內(nèi)
XRF-2000鍍層測厚儀共分三種型號
不同型號各種功能一樣
機箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2000鍍層測厚儀型號介紹
XRF-2000鍍層測厚儀H型:測量樣品高度不超過10cm
XRF-2000電鍍測厚儀L型:測量樣品高度不超過3cm
XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測量樣品高度不超3cm(開放式設(shè)計,可檢測大型樣品
XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析，不單性能*,而且價錢*
同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結(jié)果
甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統(tǒng)，十字線自動調(diào)整。超大/開放式的樣品臺，
可測量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的*?？蓽y量各類金屬層、合金層厚度等。
可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U） 原子序 22 – 92
準直器：固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
電腦系統(tǒng)：DELL品牌電腦,17寸液晶顯示器，惠普彩色打印機
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 統(tǒng)計功能
韓國Micor Pioneer XRF-2000 X射線測厚儀結(jié)構(gòu)功能
儀器功能 : 測量電鍍層厚度
系統(tǒng)結(jié)構(gòu) :
主機箱,專用分析電腦,彩色液晶顯示屏,彩色打印機
主機尺寸
610 x 670 x 600 mm(訂制加高型主機箱高度超過600mm)
主機箱重量 : 約75 公斤
配件重量 : 約 35 公斤
樣品臺承重:5KG
以滑鼠移動方式,驅(qū)動 XYZ 三軸移動,步進馬達
XYZ 樣片臺移動尺寸
200 x 150 x 100 mm
準直器一個可選0.1, 0.2, 0.3, 0.4, 0.05*0.4mm
軟件包括 視察軟件,
系統(tǒng)軟件包括,測量,統(tǒng)計
系統(tǒng)功能
可測單層,雙層或多層或合金層電鍍厚度
標準規(guī)格
自動雷射對焦,XYZ全自動XYZ樣片臺,自動調(diào)整檔案功能,電鍍藥液測量.元素配對.
主機箱:
輸入電壓力:AC220V± 10% 50/60HZ
溝通方法:RS-232C
溫度控制:前置放大及機箱溫度控制
對焦:雷射對焦
安全裝置:如測量中機箱門打開,X射線0.5秒內(nèi)自動關(guān)閉
表面泄漏:少于1usv
多通道分析
通道數(shù)量:1024ch
脈沖處理:微電腦高速處理器
X射線源
X射線管:油冷
高壓:0-50KV(程控)
管電流0-1mA(程控)
目標杷:W靶
校正及應(yīng)用:單鍍層,雙鍍層,合金鍍層,標準樣品再校正
2D,3D隨機位置測量
2D:均距表面測量
3D:表面排列處理測量
隨機位置:任意設(shè)定測量點
檢測器:正比計數(shù)器
檢測器濾片:CO或Ni(選項)
X-Y-Z三軸樣品臺
操作模式:高速精密馬達,可控制加減速度
2D,3D隨機定位,鼠標定定,樣品臺視窗控制,程控定位
機箱門打開關(guān)閉Y軸自動感應(yīng)
統(tǒng)計功能:打印報告可顯示zui大/zui小值,位移,平均值,標準差,測量位置圖片顯示及Bar圖表等
多種測量報表模式可選(可插入公司標志及客戶名稱)
定性分析:
原素頻譜顯示,ROI距離定性分析,標簽圖案顯示
指標顯示:顯示原素及測量數(shù)值,顯示ROI彩色圖
放大功能:局部放大,平均功能:柔和顯法頻譜
視窗大小:無級別式視窗大小.
韓國先鋒XRF2000 X射線測厚儀
檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
儀器功能
全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品）
測量樣品高度不超過4cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測試范圍：0.04－35um
可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測量時間：10－30秒
精度控制：
*層：±5%以內(nèi)
第二層：±8%以內(nèi)
第三層：±12%以內(nèi)
檢測電子電鍍,五金電鍍,化學鍍層厚度
主要檢測:鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等
x射線鍍層測厚儀,X-RAY膜厚儀,X熒光鍍層測厚儀
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