PhaScope PMP10 鍍鎳層測(cè)厚儀

PhaScope PMP10 鍍鎳層測(cè)厚儀是手持式設(shè)備，用于非破壞性的測(cè)量多種基材上的，包括小型結(jié)構(gòu)和粗糙表面上的導(dǎo)電涂層的厚度

PhaScope PMP10 鍍鎳層測(cè)厚儀特點(diǎn)

手持式儀器，根據(jù)相位敏感電渦流法快速、準(zhǔn)確地測(cè)量鍍層厚度，符合 DIN EN ISO 21968 標(biāo)準(zhǔn)

可測(cè)量印刷電路板上的銅厚度（頻率為60 kHz 或 240 kHz 的探頭 ESD20Cu）

可測(cè)量印刷電路板中孔銅厚度（探頭 ESL080）

可測(cè)量鐵、非鐵金屬或非導(dǎo)電部件上金屬涂層的厚度提

 隨儀器附送計(jì)算機(jī)端軟件FISCHER DataCenter，其擁有以下功能：傳輸保存測(cè)量值，全面的統(tǒng)計(jì)性和圖形化評(píng)估，輕松生成并打印檢驗(yàn)報(bào)告

PhaScope PMP10 鍍鎳層測(cè)厚儀典型應(yīng)用領(lǐng)域

測(cè)量鋼鐵上的鋅、銅或鋁鍍層（適合粗糙表面的探頭ESD20Zn）

鋼制小部件上的鋅鍍層（用于較小測(cè)量面積的探頭 ESD2.4）

鋼鐵上的電鍍鎳層（探頭ESD20Ni，頻率 60 KHz 或 240 kHz）

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