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Chroma 19036為業(yè)界結合脈沖測試，耐壓、絕緣電阻與直流電阻量測于單機的繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀，擁有5kVac/6kVdc高壓輸出、 5kV絕緣電阻、6kV層間短路脈沖電壓與四線式直流電阻量測。符合繞線元件測試需求且提供多通道掃描測試，單機10通道輸出可達成一次多顆掃描測試，節(jié)省測試時間及人力成本。

詳細介紹

相關產(chǎn)品
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耐壓測試儀19050系列/19070系列

5種規(guī)格型號可選

多通道同步耐壓測試器Chroma 19020系列

多通道；最多100 個待測物進行測試；

局部放電測試器 Model 19501-K/19500

高壓半導體元件與高絕緣材料測試

泄漏電流鉗形表 MODEL 2434

20mA AC 最小分辨率0.1mA

泄漏電流鉗形表 MODEL 2433R

40mA/400mA/400A.，分辨率達到0.01mA.

+了解更多產(chǎn)品型號
產(chǎn)品特點
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五合一安規(guī)掃描分析儀 (交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻、層間短路、直流電阻)
耐壓測試(Hi-pot) - 5kVac / 6kVdc - HSCC 高速接觸檢查
絕緣電阻測試(IR) : 5kV
繞線元件脈沖測試 (IWT)
-脈沖測試高取樣率(200MHz)
直流電阻測試 - 10通道四線直流電阻測試 /-Δ型/Y型馬達繞線電阻計算
支援40通道掃描測試
繁中 / 簡中 / 英文操作介面
USB波形儲存& 畫面擷取功能
圖形化彩色顯示
標準LAN, USB, RS232介面
GFI人體保護電路

耐壓測試 - FLASHOVER DETECTION 電氣閃絡偵測 (ARC)

19036與C h r o m a其他安規(guī)測試系列儀器同樣具有 Flashover偵測功能。Flashover是絕緣材料內(nèi)部或表面因高電界產(chǎn)生電氣放電，待測物失去原有之絕緣特性，形成暫態(tài)或非連續(xù)性放電，導致碳化導電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品傷害。若只以漏電流判定則無法檢出不良，須以測試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測為高壓測試*的檢視項目之一。

耐壓測試 - FLASHOVER DETECTION 電氣閃絡偵測 (ARC)

19036與C h r o m a其他安規(guī)測試系列儀器同樣具有 Flashover偵測功能。Flashover是絕緣材料內(nèi)部或表面因高電界產(chǎn)生電氣放電，待測物失去原有之絕緣特性，形成暫態(tài)或非連續(xù)性放電，導致碳化導電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品傷害。若只以漏電流判定則無法檢出不良，須以測試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測為高壓測試*的檢視項目之一。

次測項功能(SUB-STEP)

部分生產(chǎn)廠商常以并聯(lián)進行耐壓測試以提升生產(chǎn)檢測速度，但并聯(lián)測試時，無法正確設定電流上下限值，導致不良品流出; 以及不良品需至后測站另加進行測試，增加站數(shù)及成本。
19036系列提供次測項功能(sub-step)。當生產(chǎn)需要并聯(lián)測試時，經(jīng)由程序的編輯，以不良(Fail)做為次測項啟動條件。意指當測試于主測項(并聯(lián))不良時，才會進行次測項測試(單顆)，即可判斷出不良品為哪一顆待測物，可達到高產(chǎn)速與高檢測品質佳化。
例 : Step 1 : AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7
Sub step 1.1 : AC Hipot / pin1 to pin5
Sub step 1.2 : AC Hipot / pin1 to pin6
Sub step 1.3 : AC Hipot / pin1 to pin7

次測項功能(SUB-STEP)

部分生產(chǎn)廠商常以并聯(lián)進行耐壓測試以提升生產(chǎn)檢測速度，但并聯(lián)測試時，無法正確設定電流上下限值，導致不良品流出; 以及不良品需至后測站另加進行測試，增加站數(shù)及成本。
19036系列提供次測項功能(sub-step)。當生產(chǎn)需要并聯(lián)測試時，經(jīng)由程序的編輯，以不良(Fail)做為次測項啟動條件。意指當測試于主測項(并聯(lián))不良時，才會進行次測項測試(單顆)，即可判斷出不良品為哪一顆待測物，可達到高產(chǎn)速與高檢測品質佳化。
例 : Step 1 : AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7
Sub step 1.1 : AC Hipot / pin1 to pin5
Sub step 1.2 : AC Hipot / pin1 to pin6
Sub step 1.3 : AC Hipot / pin1 to pin7

脈沖測試

所謂的''繞線元件脈沖測試''基本上是以一''非破壞性''、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測物上，再藉由分析／比對待測物良品與不良品之等效波形以達到判定良否之目的。繞線元件脈沖測試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線元件中各種潛在之缺陷，例如：層間短路、電暈電弧或甚至是不易發(fā)覺之部分放電等。
四種判定模式
g 波形面積比較 (AREA SIZE)
g 波形差面積比較 (DIFFERENTIAL AREA)
g 波形顫動偵測 (FLUTTER DETECTION)
g 波形二階微分偵測 (LAPLACIAN DETECTION)
以二階微分演算，有效偵測出因電氣放電造成之波形不連續(xù)現(xiàn)象。

脈沖測試

所謂的''繞線元件脈沖測試''基本上是以一''非破壞性''、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測物上，再藉由分析／比對待測物良品與不良品之等效波形以達到判定良否之目的。繞線元件脈沖測試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線元件中各種潛在之缺陷，例如：層間短路、電暈電弧或甚至是不易發(fā)覺之部分放電等。
四種判定模式
g 波形面積比較 (AREA SIZE)
g 波形差面積比較 (DIFFERENTIAL AREA)
g 波形顫動偵測 (FLUTTER DETECTION)
g 波形二階微分偵測 (LAPLACIAN DETECTION)
以二階微分演算，有效偵測出因電氣放電造成之波形不連續(xù)現(xiàn)象。