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HP系列四探針探頭是一種專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜…...
變焦功能有利于定位的準(zhǔn)確性和小鉆孔誤差
是一款使用電子信號穿越墻體來定位金屬，木材及電線的儀表，一旦檢測 到該物體，液晶顯示屏?xí)@示出釘子等邊緣及位置，同時會發(fā)出聲音提示。
該硬度計適用于黑色金屬、有色金屬和非金屬材料硬度 測定。
鑄造鋁合金殼體，表面烤塑處理，耐磨損、耐老化?？煽刂迫鋭颖玫膯⑼?，實現(xiàn)半自動灌裝 外控方式
JS06-SJ雙金屬溫度計
JS29-QB薄層色譜啟動組合
硬制合金測量面
兩種測量面 測頭在不用時自動合攏 測量珠寶、皮革、金屬薄板、紙張、薄膜、金屬絲等材料的厚度
測量珠寶、皮革、金屬薄板、紙張、薄膜、金屬絲等材料的厚度
測頭在不用時自動合攏 測量珠寶、皮革、金屬薄板、紙張、薄膜、金屬絲等材料的厚度
JS73-04十噴頭噴霧環(huán)
是*能夠測量復(fù)合鍍層、多層鍍層的方法
JS30-1100-4100涂層測厚儀
JS31-mikrotest機(jī)械涂層測厚儀
JS33-CT－2電解式膜厚測試儀
JS35-TT260涂層測厚儀
JS37-TT240涂鍍層測厚儀
JS39-Minitest 600涂鍍層測厚儀 非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量裝置
采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度
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