精密LCR測(cè)試儀由一臺(tái)主機(jī)和若干測(cè)試夾具組成，具有自動(dòng)電平控制功能，能夠在很寬的頻率范圍（75kHz～30MHz）和電平范圍（5mV～2Vrms）內(nèi)對(duì)被測(cè)件的電阻、電容、電感等參數(shù)進(jìn)行測(cè)量和分析。阻抗測(cè)量基本準(zhǔn)確度為0.1%。配上大電流源后還可以進(jìn)行電感的偏置電流特性測(cè)試。

主要特點(diǎn)
　　● 測(cè)量參數(shù)多
　　● 測(cè)量范圍寬，精度高
　　● 頻率范圍寬，75kHz～300MHz，以100Hz步進(jìn)
　　● 具有GP-IB接口功能
　　● 具有掃描、延時(shí)等測(cè)量功能
　　● 可配多種測(cè)試夾具
　　● 可配大電流偏置電源

● 測(cè)量參數(shù)多
　　可測(cè)量 R（電阻）、C（電容）、L（電感）、Z（阻抗）、D（損耗因子）、Q（品質(zhì)因子）、G（電導(dǎo)）、X（電抗）、B（電納）、θ（相位角）
● 測(cè)量范圍寬，精度高
　　有效測(cè)量范圍
　　電阻：0.01Ω～10MΩ
　　電容：0.1pF～100μF
　　電感：0.1nH～100mH
　　基本準(zhǔn)確度：0.1%
● 頻率范圍寬
　　頻率范圍：75kHz～30MHz，
　　分辨率：100Hz
● 可配大電流偏置電源
● 測(cè)試夾具
　　配有三種測(cè)試夾具，可以適用不同封裝的元器件



典型應(yīng)用
　　LCR自動(dòng)測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器，廣泛應(yīng)用于元器件的出、入廠檢驗(yàn)，生產(chǎn)測(cè)試和實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)。

技術(shù)規(guī)范

頻率 頻率范圍：75kHz～30MHz
分辨率：100Hz
電平范圍 5mV～2V（有效值）
阻抗基本準(zhǔn)確度 0.1%
參數(shù)有效范圍 電阻：0.01Ω～10MΩ
電容：0.1pF～100μF
電感：0.1nH～100mH
測(cè)量參數(shù) R（電阻）、C（電容）、L（電感）、Z（阻抗）、D（損耗因子）、Q（品質(zhì)因子）、G（電導(dǎo)）、X（電抗）、B（電納）、θ（相位角）
測(cè)量方式 掃描測(cè)量：儀器可以對(duì)10個(gè)頻率點(diǎn)或電平進(jìn)行掃描測(cè)量
延時(shí)測(cè)量：延遲時(shí)間0～60S
觸發(fā)方式 內(nèi)部、手動(dòng)
顯示平均次數(shù) 1～256
選配附件的技術(shù)特性 大電流偏置電源：電流范圍0～10A
電源 電壓允許范圍220V±10%
頻率 頻率允許范圍50Hz±5%
結(jié)構(gòu)特點(diǎn) 臺(tái)式
外形尺寸（L×W×H） 530×369×190 （mm）
重量 約13Kg
環(huán)境適應(yīng)性 符合GB/T6587.1-1986 電子測(cè)量?jī)x器環(huán)境試驗(yàn)總綱中II組要求
工作溫度 0℃～40℃
存貯溫度 -40℃～70℃
電磁兼容性 符合GJB3947-2000中第3.9條的要求
安全性 MTBF（θ0）值≥3000小時(shí)
可靠性 MTBF（θ0）值≥3000小時(shí)


訂貨信息
●主機(jī)：精密LCR測(cè)試儀
●標(biāo)配：電源線、測(cè)試夾具、測(cè)試夾具、測(cè)試夾具、短路片、使用說(shuō)明書(shū)
●選件：直流偏置電源（包括測(cè)試夾具）