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Sphere-3000光學(xué)元件反射率測(cè)量?jī)x

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Sphere-3000光學(xué)元件反射率測(cè)量?jī)x

詳細(xì)介紹

Sphere-3000 光學(xué)元件反射率測(cè)量?jī)x

Sphere3000是一套全波長(zhǎng)顯微球面光學(xué)元件光譜分析儀，能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類球面/非球面器件的相對(duì)/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測(cè)量。還可進(jìn)行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測(cè)量。

Sphere3000光學(xué)元件反射率測(cè)量?jī)x-特點(diǎn)：

Ø         顯微測(cè)定微小領(lǐng)域的反射率物鏡對(duì)焦于被測(cè)物微小區(qū)域（φ60μm）

Ø         CIE顏色測(cè)定 X Y色度圖，x, y, L, a, b, 飽和度，主波長(zhǎng)等

Ø         檢測(cè)速度快高性能探測(cè)器，能在幾秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)重現(xiàn)性高的測(cè)定

Ø         消除背面反射光無需進(jìn)行背面防反射處理即可快速準(zhǔn)確地測(cè)定表面反射率

Sphere3000光學(xué)元件反射率測(cè)量?jī)x-技術(shù)參數(shù)

型號(hào)	Sphere-3000（I型）	Sphere-3000（III型）
檢測(cè)范圍	380~800nm	360~1100nm
波長(zhǎng)分辨率	1nm	1nm
相對(duì)檢測(cè)誤差	﹤1%	﹤0.5%
測(cè)定方法	與標(biāo)準(zhǔn)物比較測(cè)定
被測(cè)物再現(xiàn)性	±0.1%以下(2σ) （380nm~410nm） ±0.05%以下(2σ) (410nm~800nm)	±0.1%以下(2σ) (380nm~410nm) ±0.05%以下(2σ) (410nm~1100nm)
單次測(cè)量時(shí)間	﹤1s
精度	0.3nm
被測(cè)物N.A.	0.12(使用10×對(duì)物鏡時(shí)) 0.24(使用20×對(duì)物鏡時(shí))
被測(cè)物尺寸	直徑>1mm 厚度>1mm(使用10×對(duì)物鏡時(shí)) 厚度>0.5mm(使用20×對(duì)物鏡時(shí))
被測(cè)物測(cè)定范圍	約φ60μm(使用10×對(duì)物鏡時(shí)) 約φ30μm(使用20×對(duì)物鏡時(shí))
設(shè)備重量	約15kg（光源內(nèi)置）
設(shè)備尺寸	300(W)×550(D)×570(H)mm
使用環(huán)境	水平且無振動(dòng)的場(chǎng)所溫度：23±5℃；濕度：60％以下、無結(jié)露；
操作系統(tǒng)	Windows XP, Windows Vista，Win7
軟件	分光反射率、物體顏色、單層膜厚（有干涉條紋）和鍍膜（有干涉條紋）折射率測(cè)定
尺寸	480400580mm