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Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀

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更新時間：2025-08-27 10:05:50瀏覽次數(shù)：162次

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廣州標(biāo)旗電子科技有限公司

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所在地區(qū)：廣東

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產(chǎn)品簡介

Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀

詳細(xì)介紹

Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀

全自動透光率/反射率分析儀

型號：Planum-3000

用途：用于各類平面光學(xué)元件的反射、透射光譜快速測量。可進行多角度相對/

反射率、透過率測量，偏振光測量，膜性測量。

Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀-適宜測量范圍：棱鏡、平行平板、鏡面等平面光學(xué)性能。

操作軟件界面

平面光學(xué)元件光譜分析儀的技術(shù)參數(shù)：

型號	Planum-3000（Ⅰ型）	Planum-3000（Ⅲ型）
探測器	Sony線形CCD 陣列	Hamamatsu背照式2D-CCD
檢測范圍	380-1000nm	360-1100nm
波長分辨率	1nm	1nm
信噪比（全信號）	250:1	1000:1
相對檢測誤差	﹤1%（400-800nm）	﹤0.2%（400-800nm）
重復(fù)定位精度	﹤0.005°
透射測量角度	0-80°（小樣品0-50°）
反射測量角度	10-80°（可擴展到5°）
樣品尺寸	﹥Φ5mm
單次測量時間	<1ms
S/P光測量	支持
其他	可自定義打印報告格式，開放式光學(xué)材料數(shù)據(jù)庫